[发明专利]传感器系统和方法

说明书

本申请涉及传感器系统和方法。本发明涉及一种传感器系统，其具有至少一个测量点，该传感器系统具有至少一个第一传感器和一个测量变送器；其中第一传感器被配置为输出第一传感器信号，第一传感器信号是在测量点处存在的测量介质的第一被测变量的函数；并且其中测量变送器被连接到第一传感器，以便接收第一传感器信号，并且包括评估应用，该评估应用被配置为至少基于第一传感器信号借助于评估算法确定与第一被测变量不同的一条附加信息；并且其中传感器系统还包括较高级数据处理结构，尤其是服务器或云；并且其中较高级数据处理结构和测量变送器都被配置为执行训练应用，该训练应用被配置为训练评估算法。本发明还涉及一种用于确定附加信息的方法。

技术领域

本发明涉及一种传感器系统，其具有至少一个测量点，该传感器系统具有至少一个第一传感器和一个测量变送器。本发明还涉及一种方法，该方法用于至少基于为第一被测变量的函数的第一传感器的第一传感器信号来确定不同于能够借助于第一传感器确定的测量介质的被测变量的附加信息。

背景技术

用于测量和监视各种被测变量的传感器经常用于过程和/或自动化技术以及实验室中。此类传感器的示例为填充水平传感器、流量传感器、压力传感器、温度传感器和分析传感器，诸如pH传感器、电导率传感器、浊度传感器、用于确定离子浓度的离子选择电极、用于确定溶解气体的安培传感器、光化学传感器，例如用于氧气或pH测量的光化学传感器或光谱传感器。相应的基础测量原理从现有技术中是已知的，并且此处未单独列出。

在本申请意义上的测量点包括一个或多个用于检测表示被测变量的传感器信号的传感器，以及可以接收并进一步处理附接到该测量变送器或与其连接以进行通信的传感器的传感器信号的测量变送器。进一步的处理可以包括确定要由各个传感器检测的被测变量的测量值，对测量值的进一步评估和/或附加信息的确定。

附加信息可以是例如有关传感器状态或有关测量点监视的介质或过程的信息。这样的附加信息可以借助于KI算法来确定，尤其是使用传感器数据，该传感器数据可以由测量点的传感器以传感器信号的形式提供。例如，可以通过机器分类确定来自传感器信号的附加信息。例如，DE 10 2012 112784A1公开了一种方法，其中借助分类器从各种诊断参数确定传感器状态。从DE 10 2012 112782已知，借助于分类器来识别过程，其中分类器将当前在该过程中检测到的测量值概述或该测量值概述的至少一个或多个特征分配给预定的过程类别并确定当前测量值概述表示过程类别的过程的概率。

例如，基于传感器数据借助于机器分类，适合于基于KI的附加信息确定的算法的创建需要高的存储和计算能力，并且需要处理多个训练数据以训练该算法。传感器的制造商具有各种各样的训练数据，其适合于创建评估算法，以从所述制造商提供的传感器的传感器信号中获得附加信息。因此，它已经可以基于这些训练数据供给训练后的评估算法。另一方面，在过程工业或实验室中的许多应用中，可能是用户，即过程操作员想要与他的特定过程有关的特殊附加信息，或者希望密切监视仅其已知的和只有对他才具有有意义的训练数据的特殊过程。用户也可能想要基于不同制造商的传感器提供的传感器数据来确定附加信息。但是，由于技术、组织或法律原因，通常不可能或很难合并来自制造商以及传感器或测量点的各种用户的训练数据。

发明内容

因此，本发明的目的是提出一种传感器系统和方法，其使得能够用于使用来自传感器系统的传感器的传感器数据获得附加信息的评估算法以灵活地适应于单独测量点、单独测量任务或单独过程的要求。

根据本发明，该目的通过根据权利要求1的传感器系统和根据权利要求8的方法来实现。在从属权利要求中列出了有利的实施例。

根据本发明的传感器系统包括至少一个测量点，其具有至少一个第一传感器和一个测量变送器，

其中第一传感器被配置为输出第一传感器信号，第一传感器信号是在测量点处存在的测量介质的第一被测变量的函数，