[发明专利]基于集成约束多示例学习的高光谱目标检测方法有效
申请号: | 202110074633.7 | 申请日: | 2021-01-20 |
公开(公告)号: | CN112766161B | 公开(公告)日: | 2022-12-02 |
发明(设计)人: | 焦昶哲;李嘉铭;缑水平;王秀秀;毛莎莎;陈晓莹 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06V20/13 | 分类号: | G06V20/13;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 陈宏社;王品华 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 集成 约束 示例 学习 光谱 目标 检测 方法 | ||
1.一种基于集成约束多示例学习的高光谱目标检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)获取训练样本集和测试样本集:
(1a)从高光谱图像数据集中获取包含C种目标类别共N幅大小为W×H×Q高光谱图像A={An|1≤n≤N},每幅高光谱图像An至少包含一个目标,其中C≥2,N≥5,An表示第n幅高光谱图像,W和H分别表示An的行和列像素的个数,Q表示An的波段个数,W≥300,H≥300,Q≥72;
(1b)选取A中的m幅高光谱图像,并切割出每幅高光谱图像中标记为目标的区域作为正包,得到正包集合将每幅高光谱图像中标记为非目标的区域作为负包,得到负包集合集合Se+和集合Se-构成包集合Se,将Se中每个包中的每个像素作为一个示例,其中,表示第e幅图像中第q个大小为a×b×Q的正包,P表示正包的个数,1≤P≤15,a≥5,b≥5,表示第e幅图像中第p个负包;
(1c)将m幅高光谱图像正包和负包中的示例作为训练样本集,将其余N-m幅高光谱图像中的像素作为测试样本集;
(2)构建集成约束多示例学习网络W:
构建包括依次级联的特征提取子网络G和检测子网络fc,损失函数为Loss的集成约束多示例学习网络W;特征提取子网络G包括多个级联的特征提取模块,检测子网络fc包括依次连接的第一全连接层、LeakyReLU层、Dropout层、第二全连接层和Sigmoid层,Loss的表达式为:
Loss=Loss1+Loss2
其中,Loss1表示W的交叉熵损失函数,Loss2表示W的距离损失函数,∑表示求和,Li表示第i个包级别的真值,Yi表示第i个包的集成约束方式为的检测概率,yij表示第i个包中第j个示例的检测概率,参数γ控制二者的融合方式,表示最小值操作,表示最大值操作,表示平均值操作;
(3)对集成约束多示例学习网络W进行迭代训练:
(3a)设迭代次数为t,最大迭代次数为M,M≥500,当前集成约束多示例学习网络为Wt,并令t=1,Wt=W;
(3b)将训练样本集作为集成约束多示例学习网络Wt的输入进行前向传播,特征提取子网络G提取训练样本集每个像素的高层一维向量特征,得到一维向量特征集合H={Hij|1≤i≤(m×(P+1)),1≤j≤(a×b)},检测子网络fc对一维向量特征集合H进行检测,得到目标示例的检测概率yij,其中Hij表示第i个包中第j个示例对应的特征;
(3c)对目标示例的检测概率yij进行方式的集成约束,得到检测概率Yi,并采用损失函数Loss,通过yij和Yi计算Wt的损失值Losst,然后采用随机梯度下降法,并通过损失值Losst对特征提取子网络G的权值检测子网络fc的权值进行更新,得到更新后的Wt;
(3d)判断t=M是否成立,若是,得到训练好的集成约束多示例学习网络W*,否则,令t=t+1,并执行步骤(3b);
(4)获取高光谱的目标检测结果:
将测试样本集作为训练好的集成约束多示例学习网络W*的输入进行目标检测,得到目标分类与位置的预测结果。
2.根据权利要求1所述的基于集成约束多示例学习的高光谱目标检测方法,其特征在于,步骤(2)中所述的特征提取子网络G,包括的特征提取模块的数量为5个,其中,第一、第二和第五特征提取模块均包括层叠的一维卷积层、激活函数层和最大池化层,第三和第四特征提取模块均包括层叠的一维卷积层与激活函数层。
3.根据权利要求1所述的基于集成约束多示例学习的高光谱目标检测方法,其特征在于,步骤(3c)中所述的对特征提取子网络G的权值检测子网络fc的权值进行更新,更新公式分别为:
其中,η表示梯度下降参数,表示更新后的特征提取子网络G的权值,表示更新后的检测子网络fc的权值,表示求导操作。
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