[发明专利]一种故障分类方法及故障分类系统

说明书

本申请提供的一种故障分类方法及故障分类系统，通过不同的故障检测电路对应采集不同的故障信号，然后，当检测到故障信号时，MCU控制器会执行相应的保护，并根据故障信号确定对应的故障编码信息，得到带有故障编码的故障反馈信号，将带有故障编码的故障反馈信号通过隔离器件进行传输，得到带有故障编码的故障输出信号，上位机在接收到带有故障编码的故障输出信号后，对带有故障编码的故障输出信号进行解析，检测到对应的故障编码，就可以确定发生的故障类型，通过本申请提供的故障分类方案可以实现故障准确定位和确定故障类型，降低调试和维护时间，提高设备维护的工作效率。

技术领域

本申请涉及功率半导体技术领域，更具体地，尤其涉及一种故障分类方法及故障分类系统。

背景技术

随着IGBT（Insulated Gate Bipolar Transistor，绝缘栅双极性晶体管）功率密度、开关速度、电压等级不断提升与发展，IGBT应用技术的发展也日新月异。IGBT应用技术的核心即IGBT驱动技术，传统型的IGBT驱动器为以逻辑电路、隔离电路、功率放大电路、故障检测电路和保护电路组成的电路架构。目前，传统型的IGBT驱动器通常采用分立器件或集成度较高的ASIC（Application Specific IntegratedCircuit，专用集成电路的简称）芯片，在铁路、工业、风电、光伏、电动汽车等领域有着较为广泛的应用。然而，随着IGBT应用数量和领域的扩展，用户希望IGBT的应用能够更加智能化。

现有技术中，对故障类型的分类存在两种，一种只能传输故障信号（0/1电平变化），无法确定具体发生的是什么故障，不能迅速定位故障问题，增加调试和维护时间；而另一种需要采用多个隔离器件分开传输不同故障，通过增加多个隔离器件分别传输不同的故障信号，隔离器件数量多、成本高。

发明内容

本申请提供了一种故障分类方法及故障分类系统，解决现有技术中存在的上述缺陷。

为了实现上述目的，本申请提供了以下技术方案：

一种故障分类方法，应用于故障分类系统，所述故障分类系统包括：多个故障检测电路、MCU控制器、隔离器件和上位机，该方法包括：

由所述多个故障检测电路对应采集不同的故障信号；

当检测到所述故障信号时，所述MCU控制器执行相应的保护，并根据所述故障信号确定对应的故障编码信息，得到带有故障编码信息的故障反馈信号，所述故障编码信息预先存储至预设数据库中，所述预设数据库中存储有不同故障对应的故障编码信息；

将所述带有故障编码信息的故障反馈信号通过所述隔离器件进行传输，得到带有故障编码信息的故障输出信号；

所述上位机在接收到所述带有故障编码信息的故障输出信号后，对所述带有故障编码信息的故障输出信号进行解析，检测到对应的所述故障编码信息，根据所述故障编码信息确定对应的故障类型。

优选的，所述当检测到所述故障信号时，所述MCU控制器执行相应的保护，具体为：

当检测到所述故障信号时，所述MCU控制器保持预设时间的故障指示，所述预设时间为5ms。

优选的，所述预设数据库的构建方法，包括：

由所述多个故障检测电路对应采集不同的故障信号；

使用故障编码的方式对所述故障信号进行编码处理，得到不同的故障对应不同的故障编码信息；

将不同故障对应的故障编码信息之间的对应关系存储在所述预设数据库中。

一种故障分类系统，包括：多个故障检测电路、MCU控制器、隔离器件和上位机，其中：

所述多个故障检测电路用于采集对应不同的故障信号；