[发明专利]传感器堵塞自诊断方法及装置、终端设备及存储介质

权利要求书

1.传感器堵塞自诊断方法，其特征在于，包括如下步骤：

当达到预设测量条件后，获取传感器在单位时间内加热功率增值的测量值；

当所述测量值小于单位时间内加热功率增值的临界值时，则判定传感器的探头被堵塞；

其中，所述预设测量条件为传感器的自加热温度达到第一预设温度，且传感器探头所处的环境温度低于第二预设温度，所述第二预设温度小于所述第一预设温度。

2.如权利要求1所述的传感器堵塞自诊断方法，其特征在于，所述传感器为气体传感器。

3.如权利要求2所述的传感器堵塞自诊断方法，其特征在于，所述预设测量条件还包括，所述传感器的启动时间在露点时间之后。

4.如权利要求1所述的传感器堵塞自诊断方法，其特征在于，所述的当达到预设测量条件后，获取传感器在单位时间内加热功率增值的测量值，之后还包括：

通过所述测量值获取第一计算值，通过所述临界值获取第二计算值；

所述的当所述测量值小于单位时间内加热功率增值的临界值时，则判定传感器的探头被堵塞，具体包括：

当所述第一计算值小于所述第二计算值时，则判定传感器的探头被堵塞。

5.如权利要求4所述的传感器堵塞自诊断方法，其特征在于，所述的通过所述测量值获取第一计算值，通过所述临界值获取第二计算值，具体包括：

通过将所述测量值进行平方，获取所述第一计算值；

通过将所述临界值进行平方，获取所述第二计算值。

6.如权利要求1所述的传感器堵塞自诊断方法，其特征在于，所述预设测量条件中，所述第二预设温度小于所述第一预设温度具体包括：

所述第二预设温度小于所述第一预设温度，且所述第一预设温度与所述第二预设温度的差值大于预设差值。

7.传感器堵塞自诊断装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取传感器在单位时间内加热功率增值的测量值，及作为预设测量条件的第一预设温度和第二预设温度；以及

判断单元，用于比较所述测量值和单位时间内加热功率增值的临界值，并在所述测量值小于所述临界值时判定传感器堵塞。

8.终端设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1-6中任一项所述的方法的步骤。

9.计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的方法的步骤。