[发明专利]一种半导体晶圆的贴膜设备在审

专利信息
申请号: 202110079702.3 申请日: 2021-01-21
公开(公告)号: CN112820669A 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: 黄嘉华 申请(专利权)人: 黄嘉华
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;B08B5/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 362000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 设备
【说明书】:

发明公开了一种半导体晶圆的贴膜设备,其结构设有架台、防尘盖板、膜卷、运作台、控板,防尘盖板活动连接在架台的后侧顶部位置,膜卷嵌入安装在防尘盖板下方,运作台安装在架台上方,控板与架台为一体化结构且位于其前侧顶部位置,通过刀割柱始终在镂径中活动,侧周受抵体触压,附带的胶质物被抵截块拦截,对其有摩擦铲刮的效果,助撑接杆的伸缩弹性性质,辅助接触刀割柱而缓冲相互作用力,前抵端受力形变,令受挤囊内部气压变化,且在引径通透的结构下,使内腔内产生吸附力,可以将刀割柱侧周残有的絮状胶质物经由引径吸入,对刀割柱在作业中,及时进行附着物的清理。

技术领域

本发明属于晶圆涂膜领域,更具体地说,尤其是涉及到一种半导体晶圆的贴膜设备。

背景技术

晶圆是制成半导体的硅晶片,晶圆的加工工艺中需要运用贴膜设备在片状面覆贴一层保护膜,便于晶圆在后续切割作业中为其起到保护作用,贴膜机为晶圆贴膜作业时,膜通常在传送中会被在其底端面上刷过一层胶水,而后覆贴于晶圆片上,完成晶圆的贴膜。

基于上述本发明人发现,现有的半导体晶圆的贴膜设备存在以下不足:

覆贴上胶膜后的晶圆呈堆叠多层放置,在对贴膜后的多层晶圆片进行统一胶膜边缘裁切时,由于裁断后胶水会从膜与晶圆的间隙部分溢出并粘附在切割刀外侧,随圆切刀进行位移,导致其外侧端有胶质结絮物,在后续边缘裁切作业时,影响晶圆圆弧边的裁断流畅度。

因此需要提出一种半导体晶圆的贴膜设备。

发明内容

针对现有技术存在的不足,本发明目的是提供一种半导体晶圆的贴膜设备,以解决现有技术的问题。

为了实现上述目的,本发明是通过如下的技术方案来实现:一种半导体晶圆的贴膜设备,其结构设有架台、防尘盖板、膜卷、运作台、控板,所述防尘盖板活动连接在架台的后侧顶部位置,所述膜卷嵌入安装在防尘盖板下方,所述运作台安装在架台上方,所述控板与架台为一体化结构且位于其前侧顶部位置。

所述运作台设有底台面、侧支柱、承载台、转体、顶合盖,所述侧支柱嵌固连接在底台面两侧,所述承载台位于顶合盖下方,所述转体与顶合盖为一体化结构且活动连接在其中间区段,所述转体活动于承载台上方。

作为本发明的进一步改进,所述转体设有外限圈、转卡块、带转盘、行轨、刀割柱,所述转卡块连接在外限圈内侧边缘端,所述转卡块与带转盘相连接且活动配合,所述行轨与带转盘为一体化结构,所述刀割柱活动卡合在行轨中,所述带转盘呈圆形板面结构,所述刀割柱可进行升降和卡合着行轨的位移活动。

作为本发明的进一步改进,所述行轨设有镂径、抵体、侧行腔,所述镂径与行轨为一体化且设在其中间位置,所述侧行腔位于镂径外侧,所述抵体嵌入连接在侧行腔内部,所述抵体前端活动于镂径侧边端,所述抵体设有两个,且关于镂径呈对称分布。

作为本发明的进一步改进,所述抵体设有衔接块、助撑接杆、抵截块、顶力簧,所述顶力簧连接在衔接块前端,所述助撑接杆前端与抵截块铰接连接且活动配合,所述顶力簧连接在衔接块与抵截块之间且活动配合,所述助撑接杆呈侧八结构。

作为本发明的进一步改进,所述助撑接杆设有实块、前抵端、受挤囊、引径、内腔,所述实块与内腔为一体化结构且设在其后端,所述前抵端活动连接在内腔外侧,所述受挤囊位于前抵端内侧端,所述引径连接于前抵端内侧,所述内腔呈空心状态,所述前抵端呈弧瓣状,且受力可进行形变,所述引径为左右通透的腔径。

作为本发明的进一步改进,所述前抵端设有伸缩接架、连接簧、抨击球、形变腔,所述伸缩接架嵌入安装在形变腔内部中间端位置,所述连接簧穿接过伸缩接架,所述抨击球与连接簧相连接且活动配合,所述伸缩接架具有伸缩性,所述抨击球设有两个,所述抨击球自身具有重压力。

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