[发明专利]一种半导体晶圆的贴膜设备在审
申请号: | 202110079702.3 | 申请日: | 2021-01-21 |
公开(公告)号: | CN112820669A | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 黄嘉华 | 申请(专利权)人: | 黄嘉华 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;B08B5/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 362000 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 设备 | ||
本发明公开了一种半导体晶圆的贴膜设备,其结构设有架台、防尘盖板、膜卷、运作台、控板,防尘盖板活动连接在架台的后侧顶部位置,膜卷嵌入安装在防尘盖板下方,运作台安装在架台上方,控板与架台为一体化结构且位于其前侧顶部位置,通过刀割柱始终在镂径中活动,侧周受抵体触压,附带的胶质物被抵截块拦截,对其有摩擦铲刮的效果,助撑接杆的伸缩弹性性质,辅助接触刀割柱而缓冲相互作用力,前抵端受力形变,令受挤囊内部气压变化,且在引径通透的结构下,使内腔内产生吸附力,可以将刀割柱侧周残有的絮状胶质物经由引径吸入,对刀割柱在作业中,及时进行附着物的清理。
技术领域
本发明属于晶圆涂膜领域,更具体地说,尤其是涉及到一种半导体晶圆的贴膜设备。
背景技术
晶圆是制成半导体的硅晶片,晶圆的加工工艺中需要运用贴膜设备在片状面覆贴一层保护膜,便于晶圆在后续切割作业中为其起到保护作用,贴膜机为晶圆贴膜作业时,膜通常在传送中会被在其底端面上刷过一层胶水,而后覆贴于晶圆片上,完成晶圆的贴膜。
基于上述本发明人发现,现有的半导体晶圆的贴膜设备存在以下不足:
覆贴上胶膜后的晶圆呈堆叠多层放置,在对贴膜后的多层晶圆片进行统一胶膜边缘裁切时,由于裁断后胶水会从膜与晶圆的间隙部分溢出并粘附在切割刀外侧,随圆切刀进行位移,导致其外侧端有胶质结絮物,在后续边缘裁切作业时,影响晶圆圆弧边的裁断流畅度。
因此需要提出一种半导体晶圆的贴膜设备。
发明内容
针对现有技术存在的不足,本发明目的是提供一种半导体晶圆的贴膜设备,以解决现有技术的问题。
为了实现上述目的,本发明是通过如下的技术方案来实现:一种半导体晶圆的贴膜设备,其结构设有架台、防尘盖板、膜卷、运作台、控板,所述防尘盖板活动连接在架台的后侧顶部位置,所述膜卷嵌入安装在防尘盖板下方,所述运作台安装在架台上方,所述控板与架台为一体化结构且位于其前侧顶部位置。
所述运作台设有底台面、侧支柱、承载台、转体、顶合盖,所述侧支柱嵌固连接在底台面两侧,所述承载台位于顶合盖下方,所述转体与顶合盖为一体化结构且活动连接在其中间区段,所述转体活动于承载台上方。
作为本发明的进一步改进,所述转体设有外限圈、转卡块、带转盘、行轨、刀割柱,所述转卡块连接在外限圈内侧边缘端,所述转卡块与带转盘相连接且活动配合,所述行轨与带转盘为一体化结构,所述刀割柱活动卡合在行轨中,所述带转盘呈圆形板面结构,所述刀割柱可进行升降和卡合着行轨的位移活动。
作为本发明的进一步改进,所述行轨设有镂径、抵体、侧行腔,所述镂径与行轨为一体化且设在其中间位置,所述侧行腔位于镂径外侧,所述抵体嵌入连接在侧行腔内部,所述抵体前端活动于镂径侧边端,所述抵体设有两个,且关于镂径呈对称分布。
作为本发明的进一步改进,所述抵体设有衔接块、助撑接杆、抵截块、顶力簧,所述顶力簧连接在衔接块前端,所述助撑接杆前端与抵截块铰接连接且活动配合,所述顶力簧连接在衔接块与抵截块之间且活动配合,所述助撑接杆呈侧八结构。
作为本发明的进一步改进,所述助撑接杆设有实块、前抵端、受挤囊、引径、内腔,所述实块与内腔为一体化结构且设在其后端,所述前抵端活动连接在内腔外侧,所述受挤囊位于前抵端内侧端,所述引径连接于前抵端内侧,所述内腔呈空心状态,所述前抵端呈弧瓣状,且受力可进行形变,所述引径为左右通透的腔径。
作为本发明的进一步改进,所述前抵端设有伸缩接架、连接簧、抨击球、形变腔,所述伸缩接架嵌入安装在形变腔内部中间端位置,所述连接簧穿接过伸缩接架,所述抨击球与连接簧相连接且活动配合,所述伸缩接架具有伸缩性,所述抨击球设有两个,所述抨击球自身具有重压力。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于黄嘉华,未经黄嘉华许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110079702.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种炼铁用空气循环控温装置
- 下一篇:电动U型压力计
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造