[发明专利]一种半导体存储器测试软件的参数测试方法和装置

权利要求书

1.一种半导体存储器测试软件的参数测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

根据半导体存储器的参数信息设定多种测试参数组合；

根据所述半导体存储器的参数信息，设定多组预设错误数量组合；

分别根据各所述预设错误数量组合配置所述半导体存储器，利用各所述测试参数组合测试配置后的各所述半导体存储器，并将各自对应的测试结果与对应的所述预设错误数量组合比对，验证各所述测试参数组合是否合理；其中，

多种所述测试参数组合通过Chunk尺寸参数、至少2种保存FBC判断参数、至少2种FBC错误限制参数、至少2种Chunk错误限制参数以及至少2种Page错误限制参数组合获得，所述预设错误数量组合均包括Page错误个数、Chunk错误个数以及Byte错误个数，一个Byte错误对应4个bit错误，FBC为一个Chunk内错误的bit个数。

2.如权利要求1所述的半导体存储器测试软件的参数测试方法，其特征在于，所述根据半导体存储器的参数信息设定多种测试参数组合，包括以下步骤：

获取所述半导体存储器的Page Size，根据所述Chunk尺寸参数，设定测试时所述半导体存储器中一个Page的Chunk数量；

根据所述半导体存储器中一个Page的Chunk数量，设定至少2种所述Chunk错误限制参数以及至少2种所述Page错误限制参数；

根据所述Chunk尺寸参数，设定多种所述保存FBC判断参数以及多种所述FBC错误限制参数。

3.如权利要求1所述的半导体存储器测试软件的参数测试方法，其特征在于：

至少2种所述Chunk错误限制参数以及至少2种所述Page错误限制参数中，均包括0和1两种情况。

4.如权利要求1所述的半导体存储器测试软件的参数测试方法，其特征在于，所述方法还包括以下步骤：

将Block中各Chunk的FBC值与所述保存FBC判断参数比对，当所述Block中任一Chunk的FBC值大于所述保存FBC判断参数时，则保存对应的所述Block的FBC文件。

5.如权利要求2所述的半导体存储器测试软件的参数测试方法，其特征在于，所述利用各所述测试参数组合测试配置后的所述半导体存储器中，包括以下步骤：

判断所述半导体存储器的各Chunk的FBC值是否大于FBC错误限制参数，从而判定各所述Chunk是否失效；

判断失效的所述Chunk的总数是否大于所述Chunk错误限制参数，从而判定对应的各所述Page是否失效，

判断失效的所述Page的总数是否大于Page错误限制参数，从而判定所述半导体存储器是否存在坏块。

6.一种半导体存储器测试软件的参数测试装置，其特征在于，所述装置包括：

测试参数设定模块，其用于根据半导体存储器的参数信息设定多种测试参数组合；

错误模拟模块，其用于根据所述半导体存储器的参数信息，设定多组预设错误数量组合；

模拟测试模块，其用于分别根据各所述预设错误数量组合配置所述半导体存储器，利用各所述测试参数组合测试配置后的所述半导体存储器，并将各自对应的测试结果与对应的所述预设错误数量组合比对，验证各所述测试参数组合是否合理；其中，

多种所述测试参数组合通过Chunk尺寸参数、至少2种保存FBC判断参数、至少2种FBC错误限制参数、至少2种Chunk错误限制参数以及至少2种Page错误限制参数组合获得，所述预设错误数量组合均包括Page错误个数、Chunk错误个数以及Byte错误个数，一个Byte错误对应4个bit错误，FBC为一个Chunk内错误的bit个数。