[发明专利]一种基于三维重建的绝缘子爬电距离检测方法和检测系统在审
申请号: | 202110083707.3 | 申请日: | 2021-01-21 |
公开(公告)号: | CN112785711A | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 侯北平;陈凌超;朱文;介婧;于爱华;周乐;张勇 | 申请(专利权)人: | 浙江科技学院 |
主分类号: | G06T17/20 | 分类号: | G06T17/20;G06T7/33;G06T7/194;G06T7/136;G06T7/11;G01B21/02 |
代理公司: | 杭州知闲专利代理事务所(特殊普通合伙) 33315 | 代理人: | 黄燕 |
地址: | 310023 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 三维重建 绝缘子 距离 检测 方法 系统 | ||
1.一种基于三维重建的绝缘子爬电距离检测方法,其特征在于,包括:针对待检测绝缘子的点云数据,计算对应的FPFH特征描述子,依据得到的FPFH特征描述子,完成点云数据的粗配准,利用LM算法完成精配准,对配准后的点云数据进行平滑处理和点云曲面重建,基于得到的三维重建数据选择采样平面,计算得到爬电距离。
2.根据权利要求1所述的基于三维重建的绝缘子爬电距离检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)获取待检测绝缘子的点云数据;
(2)针对得到的点云数据计算对应的FPFH特征描述子;
(3)运用SAC-IA算法结合获得的FPFH特征描述子对所述点云数据的粗配准;
(4)针对得到的粗配准点云数据,利用优化后的LM算法完成精配准;
(5)对配准后的点云数据进行平滑处理和点云曲面重建;
(6)对满足要求的点云曲面,确定采样范围;
(7)确定采样平面;
(8)确定位于采样平面上的有效点,计算爬电距离。
3.根据权利要求1或2所述基于三维重建的绝缘子爬电距离检测方法,其特征在于,利用Azure Kinect传感器周向采集待检测绝缘子不同角度的深度信息,将得到的深度信息转换成点云信息,利用点云滤波和点云分割,单独分离出所述待检测绝缘子的点云数据。
4.根据权利要求3所述基于三维重建的绝缘子爬电距离检测方法,其特征在于,所述点云滤波包括:
(1)利用直通滤波将点云信息中坐标不在设定范围内的点移除;
(2)对直通滤波处理后的点云信息进行下采样;
(3)移除下采样处理后的点云信息中的离群点。
5.根据权利要求1或2所述基于三维重建的绝缘子爬电距离检测方法,其特征在于,利用LM算法进行精配准点云数据时,每迭代r次,对比变换的误差是否均小于设定阈值,如果小于阈值,则减小设定阈值,r=2~3。
6.根据权利要求1或2所述基于三维重建的绝缘子爬电距离检测方法,其特征在于,采用移动最小二乘法实现点云平滑,采用泊松曲面重建算法重建点云曲面。
7.根据权利要求1或2所述基于三维重建的绝缘子爬电距离检测方法,其特征在于,在对配准后的点云数据进行平滑处理和点云曲面重建后,每配准w组点云数据进行一次下采样操作,w=2~5。
8.根据权利要求1或2所述基于三维重建的绝缘子爬电距离检测方法,其特征在于,对得到的满足要求的点云曲面,用鼠标选取施加电压部位之间的最近点,确定采样范围;利用两个点中任一点的法向量以及两点间的向量,确定所述采样平面。
9.根据权利要求1或2所述基于三维重建的绝缘子爬电距离检测方法,其特征在于,计算爬电距离时:
在确定的采样平面中进行均匀采样;
根据采样点是否位于所述点云曲面上,确定有效采样点;
根据确定的起始点,依次计算两个最近点的距离,最终得到所述爬电距离。
10.一种基于三维重建的绝缘子爬电距离检测系统,其特征在于,位于待检测绝缘子一侧,用于采集待检测绝缘子不同角度的深度图像的深度传感器;
图像处理单元,将深度传感器得到的深度图像转换为点云信息;然后将得到的点云信息进行点云滤波和点云分割,单独分离出绝缘子的点云数据;求取待检测绝缘子的点云数据的FPFH特征描述子;依据得到的FPFH特征描述子,完成点云数据的粗配准,利用LM算法完成精配准;对配准后的点云数据进行平滑处理和点云曲面重建;
采样和计算模块,基于得到三维重建数据选择采样平面,计算得到爬电距离。
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