[发明专利]一种可靠性同测装置及其控制方法

权利要求书

1.一种可靠性同测装置，其特征在于，包括测试硬件主控制板和上位机控制，其中测试硬件主控制板包括测试控制单片机、n个被测微控制器芯片；上位机控制通过与测试硬件主控制板相连，测试控制单片机与被测微控制器芯片相连；上位机控制指令控制外部程控电源，以自动配置不同的电压条件，对控制测试硬件主控制板上测试控制单片机设置，与被测微控制器芯片通讯，启动多个被测微控制器存储器测试程序，在同一时间进行内置的大容量存储器的耐久力与保持力测试。

2.根据权利要求1所述的一种可靠性同测装置，其特征在于，所述测试硬件主控制板仅需一个支持串口通讯接口或SPI通讯接口的单片机即可实现满足可靠性测试最小抽样个数的芯片同测。

3.一种可靠性同测控制方法，基于权利要求1所述的装置，其特征在于上位机控制指令控制程控电源，以自动配置不同的电压条件；上位机控制指令对测试硬件主控制板上测试控制单片机设置，与被测微控制器芯片通讯，启动多个被测微控制器存储器测试程序，在同一时间进行运行内置的大容量存储器的耐久力与保持力测试；通过测试控制单片机转发上位机控制指令至指定被测微控制器芯片，可设定该测微控制器芯片的待测试存储器空间，被测微控制器芯片自动搬运测试程序所在的地址，并跳转执行，以实现将默认程序区转为数据区，进行该区域的测试；上位机定期通过测试控制单片机依次给被测芯片发送测试状态询问指令，搜集运行信息。

4.根据权利3所述的一种可靠性同测控制方法，其特征在于，所述被测微控制器存储器测试程序实现自动对本芯片数据区存储器的擦写与读校验，在检测到数据区读写失效时以冗余备份的形式保存失效现场地址与数据信息以避免结果记录区本身失效。

5.根据权利要求3所述的一种可靠性同测控制方法，其特征在于，所述被测微控制器存储器测试程序将内嵌存储器区域分为三部分：测试程序存储区、测试现场记录区以及待测区，可根据上位机通过测试控制单片机下发的指令配置待测区区间，若设定的待测区、测试存储区与现场记录区冲突，则能自动启动测试程序搬移功能，并更换测试现场记录区的位置。