[发明专利]一种平面构件平行度的测量方法和装置在审

专利信息
申请号: 202110087573.2 申请日: 2021-01-22
公开(公告)号: CN112902880A 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 郭江;康仁科;张俊涛;潘博 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27;G01B11/06
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 李晓亮;潘迅
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 平面 构件 平行 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.一种平面构件平行度的测量装置,其特征在于,所述的测量装置包括运动系统、测量系统、控制系统、数据处理系统;所述测量系统安装在运动系统上,控制系统控制运动系统带动测量系统进行运动,数据处理系统实时收集测量系统测量的数据并进行数据处理;

所述运动系统包括基座(13)、X伺服电机(1)、Y气浮导轨(2)、X气浮导轨(3)、Y气浮导轨滑块(4)、Y伺服电机(5)、X气浮导轨滑块(6)、光栅尺;所述的基座(13)两侧设有凸起结构,两个凸起结构上分别安装X气浮导轨(3),X气浮导轨(3)上设有X气浮导轨滑块(6);所述Y气浮导轨(2)两端安装在X气浮导轨滑块(6)上,通过X气浮导轨滑块(6)与X气浮导轨(3)连接;所述Y气浮导轨滑块(4)安装在Y气浮导轨(2)上;所述X伺服电机(1)安装在左侧X气浮导轨(3)上,带动X气浮导轨滑块(6)完成X方向的移动;所述Y伺服电机(5)安装在Y气浮导轨(2)上,带动Y气浮导轨滑块(4)完成Y方向的移动;所述光栅尺安装在X气浮导轨(3)和Y气浮导轨(2)上,获取激光位移传感器的位置信息,实时反馈给数据处理系统;

所述控制系统通过控制X伺服电机(1)、Y伺服电机(5)、直线电机(12)、转盘编码器(15)运动,从而控制激光位移传感器(9)完成X、Y方向特定轨迹的移动、直线电机(12)的直线升降运动和编码器15的旋转运动;

所述测量系统包括激光位移传感器保持架(7)、连接板(8)、激光位移传感器(9)、工件测量平台(11)、直线电机(12)、编码器载台(14)、转盘编码器(15)、直线导轨(16);所述激光位移传感器保持架(7)为U型结构,U型结构中部设有凸起结构,凸起结构通过Y气浮导轨滑块(4)与Y气浮导轨(2)连接,U型结构两个侧壁位于基座(13)正上方;所述两个连接板(8)安装在激光位移传感器保持架(7)上下两个侧壁的端部,且每个连接板(8)中部设有中心孔,安装时要求两个连接板(8)上的中心孔同轴心,中心孔用于安装激光位移传感器(9),上下两个激光位移传感器(9)在竖直方向上同轴心;所述工件测量平台(11)安装在基座(13)的前端平面上,工件测量平台(11)为“回”字型结构与U型结构的激光位移传感器保持架(7)在空间位置上呈正交关系,所述工件测量平台(11)上端面设有弧形槽,平面薄壁构件(10)水平放置于工件测量平台(11)的弧形槽上,使得位于激光位移传感器保持架(7)上的两个激光位移传感器(9)能够对工件的上下两表面进行测量;所述直线导轨(16)有两个,竖直安装在工件测量平台(11)两侧内壁上,两个直线导轨(16)与两个直线电机(12)连接;所述编码器载台(14)的两端与直线电机(12)连接,位于平面薄壁构件(10)下方,转盘编码器(15)安装在编码器载台(14)上,其中转盘编码器(15)与平面薄壁构件(10)同轴放置,两个直线电机(12)带动编码器载台(14)上的转盘编码器(15)在直线导轨(16)上完成升降运动;

所述数据处理系统与激光位移传感器(9)和光栅尺连接,用于实时获取激光位移传感器(9)的测量值和位置信息,并进行数据处理。

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