[发明专利]用于测试被测设备的方法和测试系统

说明书

本发明涉及一种用于通过使用测试系统(10)来测试被测设备(12)的方法。该方法包括以下步骤：生成宽带调制信号，将所述宽带调制信号转发到被测设备(12)的输入(22)，通过定向元件(16)分离在所述输入(22)处反射的电磁波，将所述反射的电磁波转发到矢量信号分析器(24)，处理与所述宽带调制信号相关联的参考信号，以及通过考虑所述参考信号和所述被测设备(12)的至少一个散射参数来确定信道响应，其中所述散射参数取决于所述反射电磁波。进一步，本发明涉及一种测试系统(10)。

技术领域

本发明涉及一种用于通过使用测试系统测试被测设备的方法。进一步，本发明涉及一种用于测试被测设备的测试系统。

背景技术

如今，处理电磁信号的许多电子设备必须针对不同的特性进行测试。因此，需要至少两个不同的测试台来执行这些不同的测试。例如，第一测试台包括矢量网络分析器(vector network analyzer，VNA)，其用于测量相应设备的端口匹配，即测量被测设备的相应端口匹配参数。端口匹配测量通常通过基于连续波(continuous wave，CW)信号的方法来完成。而且，第二测试台可以用于测试相应的设备，其包括矢量信号发生器(vector signalgenerator，VSG)和矢量信号分析器(vector signal analyzer，VSA)。VSG和VSA用于测量需要已调制的激励的某些参数。借助于第二测试台获得的相应参数可以用于确定相邻信道泄漏功率比(adjacent channel leakage power ratio，ACLR)或误差矢量幅值(errorvector magnitude，EVM)。一般而言，ACLR定义了所分配的信道上的发射功率与相邻信道中接收的功率之比。EVM是用于量化待测电子设备(尤其是接收器或发射器)的性能的度量。

然而，各个测试需要很长时间，因为连续波信号用于测试端口匹配，从而导致测试信号的各个频率扫描。此外，被测设备随后必须被放置到两个不同的测试台，这又由于不同的测试台和更多的工作量而导致更高的成本。

因此，需要一种成本有效且快速的方法来测试被测设备。

发明内容

本发明提供了一种用于通过使用测试系统测试被测设备的方法。该方法包括以下步骤：

通过至少一个矢量信号发生器生成宽带调制信号，

经由至少一个定向元件将宽带调制信号转发到被测设备的输入，

通过定向元件分离在被测设备的输入处反射的电磁波，

经由定向元件将反射的电磁波转发到矢量信号分析器，其中矢量信号分析器与矢量信号发生器具有所定义的相位关系，

通过矢量信号分析器处理参考信号，其中参考信号与所述宽带调制信号相关联，以及

通过考虑参考信号和被测设备的由矢量信号分析器确定的至少一个散射参数来确定信道响应，其中散射参数取决于反射的电磁波。

另外，本发明提供了一种用于测试被测设备的测试系统。该测试系统包括至少一个矢量信号发生器，该至少一个矢量信号发生器被配置成生成宽带调制信号。测试系统包括至少一个矢量信号分析器，该至少一个矢量信号分析器与矢量信号发生器具有所定义的相位关系。而且，测试系统包括至少一个定向元件，该至少一个定向元件被配置成分离入射电磁波和反射的电磁波。定向元件至少具有第一端口、第二端口和第三端口。矢量信号发生器经由第一端口与定向元件连接。矢量信号分析器经由第三端口与定向元件连接。第二端口用于连接被测设备。矢量信号发生器被配置成经由定向元件将宽带调制信号转发到被测设备。定向元件被配置成分离在被测设备的输入处反射的电磁波。矢量信号分析器被配置成处理与宽带调制信号相关联的参考信号。矢量信号分析器被配置为通过考虑参考信号和被测设备的由矢量信号分析器确定的至少一个散射参数来确定信道响应，其中散射参数取决于反射的电磁波。