[发明专利]一种阵列辐射方向图的激励值求解方法及装置

权利要求书

1.一种阵列辐射方向图的激励值求解方法，其特征在于，包括：

获取目标辐射方向图，所述目标辐射方向图用于表示期望的阵列天线的辐射特性随空间方向的变化关系；

在所述目标辐射方向图中，确定多个不同的采样点、以及每个采样点对应的目标辐射特性值；

构建阵列辐射方向图中每个采样点的辐射特性值表达式，所述阵列辐射方向图中每个采样点的辐射特性值表达式中包括实际的阵列天线中不同位置的阵元在该采样点处对应的辐射特性值、所述不同位置的阵元在该采样点处所产生的相位差值、以及表示所述不同位置的阵元的待求解激励幅相值参数；

针对每个采样点，构建阵列辐射方向图中该采样点的辐射特性值表达式与目标辐射方向图中该采样点的目标辐射特性值的差值表达式；

构建每个采样点对应的差值表达式的绝对值的和表达式、以及每个采样点对应的差值表达式的方差表达式；

构建目标函数，所述目标函数中包括所述每个采样点对应的差值表达式的绝对值的和表达式、所述每个采样点对应的差值表达式的方差表达式、第一系数以及第二系数；

所述目标函数为：

其中，I表示所要求解的激励幅值，a表示所要求解的激励相位，Q表示采样区域的数量，k表示每个采样区域对应的标号，N表示采样区域k中在θ方向确定的采样点的数量，M表示采样区域k中在方向确定的采样点的数量，表示阵列辐射方向图中采样点的辐射特性值表达式，表示目标辐射方向图中采样点的目标辐射特性值，K_k1表示位于采样区域k的采样点对应的差值表达式的绝对值的和表达式对应的第一系数，K_k2表示位于采样区域k的采样点对应的差值表达式的方差表达式对应的第二系数，表示位于采样区域k的采样点对应的差值表达式的方差表达式；

求解使所述目标函数得到最小值的激励幅相值，作为所述阵列辐射方向图的激励值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述目标辐射方向图中，确定多个不同的采样点，包括：

在所述目标辐射方向图中设定基准采样区域，在所述基准采样区域中选择多个采样点；

对所述基准采样区域进行n次外扩，得到n个外扩采样区域，在第n个外扩采样区域中选择多个采样点，所述n为正整数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基准采样区域为满足(0θθ₁，)的采样点所在的区域；其中，θ表示采样点的空间方向与z轴正半轴所成夹角，表示采样点的空间方向与x轴正半轴所成夹角,θ₁表示所述基准采样区域对应的最大预设θ；

所述第n个外扩采样区域为满足(0θθ_n，)的采样点所在的区域；其中，θ₁θ₂…θ_n，θ_n表示所述第n个外扩采样区域对应的最大预设θ。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，位于同一采样区域的采样点对应的差值表达式的绝对值的和表达式对应一个第一系数，所述第一系数的大小是根据每个采样区域对应的权重进行调整的；

位于同一采样区域的采样点对应的差值表达式的方差表达式对应一个第二系数，所述第二系数的大小是根据每个采样区域对应的权重进行调整的。