[发明专利]一种相对沉降数据精确检测方法在审
申请号: | 202110091708.2 | 申请日: | 2021-01-23 |
公开(公告)号: | CN112902914A | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 王洪涛 | 申请(专利权)人: | 道合永盛(北京)科技有限公司 |
主分类号: | G01C5/00 | 分类号: | G01C5/00;G01C11/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 101100 北京市通州区中关村科技园区通州园金*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 相对 沉降 数据 精确 检测 方法 | ||
1.一种相对沉降数据精确检测方法,其特征在于,具体步骤包括:
步骤1、采集激光光斑图像,得到变化前和变化后的光斑图像;
步骤2、设置多个特征点,根据特征点信息将光斑信息与特征点信息进行匹配;
步骤3、基于单目视觉和特征点之间的约束关系,建立特征点的透视投影模型;
步骤4、根据透视投影模型,基于PnP问题解算特征点位姿,得到光斑中心的修正系数;
步骤5、通过光斑中心定位方法得到光斑的中心位置,基于光斑中心的修正系数对光斑的中心位置数据进行修正;
步骤6、对变化前图像和变化后图像的光斑中心做差分运算,得出路基的垂直沉降量。
2.根据权利要求1所述的一种相对沉降数据精确检测方法,其特征在于,所述步骤2中设置的特征点的数量为5,各特征点分别标记为p1、p2、p3、p4、p5。
3.根据权利要求2所述的一种相对沉降数据精确检测方法,其特征在于,所述步骤2具体步骤包括:
步骤2.1、提取光斑图像的特征光斑,对特征光斑进行最小二乘法直线拟合,拟合得到的直线为p2→p4特征点所在的直线f;
步骤2.2、分别计算点Pi(i=1,2,3,4,5)到直线f的距离P′i(i=1,2,3,4,5),ε为精度,如果P′i<ε,Pi为p2→p4的特征点,则另外两个点为p1和p5,拟合得到直线n,求得直线f和直线n的交点G,特征点p2→p4中距离G点最近的是p3点;
步骤2.3、通过判断其余特征点位于直线f的上方或下方,确定p1和p5。
4.根据权利要求2所述的一种相对沉降数据精确检测方法,其特征在于,所述步骤3具体步骤包括:
步骤3.1、基于单目视觉,以图像采集设备所在位置为坐标原点,竖直方向为y轴,图像采集设备与靶面所在直线方向为z轴,水平方向为x轴,建立图像坐标系,图像坐标系中空间一点P坐标为(xc,yc,zc);
步骤3.2、基于单目视觉,以靶面所在位置为坐标原点,竖直方向为y轴,图像采集设备与靶面所在直线方向为z轴,水平方向为x轴,建立靶面坐标系,靶面坐标系中点P坐标为(xw,yw,zw),得到特征点的透视投影模型;
步骤3.3、点P在像平面坐标系下像素坐标为(u,v),根据透视投影模型中的4个不同层次的坐标系转换关系,得到针孔成像模型中特征点坐标的转化关系其中,ρ为比例参数,K与图像采集设备内部参数有关,R为旋转矩阵,t为平移向量。
5.根据权利要求2所述的一种相对沉降数据精确检测方法,其特征在于,所述步骤4具体步骤包括:
步骤4.1、从各特征点的x、y坐标得出约束条件,给出4个或4个以上数量的特征点进行位姿解算,获得位姿线性解即初值;
步骤4.2、采用L-M算法获取优化解,得到非线性最小化的数值解即精确值。
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