[发明专利]一种高精度的反正切拟合系统及超声成像装置在审

专利信息
申请号: 202110095896.6 申请日: 2021-01-25
公开(公告)号: CN112882041A 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 肖梦楠;覃朝辉 申请(专利权)人: 聚融医疗科技(杭州)有限公司
主分类号: G01S15/89 分类号: G01S15/89;G01S7/539;G06F1/03
代理公司: 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 代理人: 周希良
地址: 311305 浙江省杭州市临安*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 高精度 正切 拟合 系统 超声 成像 装置
【权利要求书】:

1.一种高精度的反正切拟合系统,其特征在于,包括:

查找表构建模块,用于构建非线性模型中的角度查找表;

参数计算模块,用于计算非线性模型参数;

基础系数计算模块,用于计算基础系数;

拟合系数计算模块,用于根据基础系数计算得到非线性模型的拟合系数;

拟合模块,用于基于非线性模型对反正切值进行拟合。

2.根据权利要求1所述的一种高精度的反正切拟合系统,其特征在于,所述查找表构建模块中的构建角度查找表具体为:将的正切值[0,1]等分为两段并构建角度查找表LUT=[0,0.4636,,07854]。

3.根据权利要求2所述的一种高精度的反正切拟合系统,其特征在于,所述参数计算模块中的计算非线性模型参数具体为:计算索引ind=round(2*x)、t=(2*x-ind)/(2+ind*x),其中,round表示四舍五入,x、t为中间变量,Q表示虚部,I表示实部。

4.根据权利要求3所述的一种高精度的反正切拟合系统,其特征在于,所述基础系数计算模块中的计算基础系数具体为:

计算基础系数a,公式如下:

a=2*tan(0.245/2);

计算基础系数b,公式如下:

b=2*tan(0.245/2)3/3。

5.根据权利要求4所述的一种高精度的反正切拟合系统,其特征在于,所述拟合系数计算模块中的根据基础系数计算得到非线性模型的拟合系数具体为:

计算拟合系数A,公式如下:

A=4*a+12*b;

计算拟合系数B,公式如下:

B=256*b。

6.根据权利要求5所述的一种高精度的反正切拟合系统,其特征在于,所述拟合模块中的基于非线性模型对反正切值进行拟合具体为:基于非线性模型对内的反正切值进行拟合,并采用以下公式:

arctan=LUT(ind)+A*t-B*t3

7.一种高精度的反正切超声成像装置,其特征在于,包括权利要求1-6任一项所述的一种高精度的反正切拟合系统。

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