[发明专利]实现针对BCM不同负载反馈波形进行检测的方法、系统、装置、处理器及其存储介质

说明书

本发明涉及一种实现针对BCM不同负载反馈波形进行检测的方法，包括根据负载的控制方式，调整各个负载的采样速率和采样宽度，配置ADC资源和通道；根据负载的控制状态，将采样请求按序加入到对应资源的队列中；根据DMA的状态，加载请求队列中信息，实现采样。本发明还涉及相应的系统、装置、处理器及其计算机可读存储介质。采用了本发明的实现针对BCM不同负载反馈波形进行检测的方法、系统、装置、处理器及其计算机可读存储介质，负载采用表管理方式，可以根据实际负载调整采样速率和采样宽度，容易维护。系统周期调用ADC管理和DMA管理，某个负载需要采样就加入到相应的请求队列中，再根据DMA的空闲状态分配请求，完成某个负载的一次采样，实现资源高效利用。设计时对ADC和DMA资源数量进行检查，可以实现当ADC资源和DMA资源变化时，软件的逻辑处理依然可以完全通用。

技术领域

本发明涉及汽车电子控制技术领域，具体是指一种实现针对BCM不同负载反馈波形进行检测的方法、系统、装置、处理器及其计算机可读存储介质。

背景技术

BCM作为车身电子的重要组成部分，为了保护器件，利用负载反馈进行过流、过载检测。BCM控制多种类型负载，比如卤素灯、LED灯、电磁阀等，控制方式不尽相同，有些需要直接驱动，有些需要PWM驱动。于是，反馈波形也不尽相同，特别是那些表现为PWM形式的负载。

因此，有必要提出一种方法，能对不同反馈波形进行检测，提高软件的通用性。

发明内容

本发明的目的是克服了上述现有技术的缺点，提供了一种满足操作简便、通用性好、适用范围较为广泛的实现针对BCM不同负载反馈波形进行检测的方法、系统、装置、处理器及其计算机可读存储介质。

为了实现上述目的，本发明的实现针对BCM不同负载反馈波形进行检测的方法、系统、装置、处理器及其计算机可读存储介质如下：

该实现针对BCM不同负载反馈波形进行检测的方法，其主要特点是，所述的方法包括以下步骤：

(1)根据负载的控制方式，调整各个负载的采样速率和采样宽度，配置ADC资源和通道；

(2)根据负载的控制状态，将采样请求按序加入到对应资源的队列中；

(3)根据DMA的状态，加载请求队列中信息，实现采样。

较佳地，所述的步骤(1)还包括以下步骤：

根据不同反馈波形的采样速率和采样宽度，计算采样容量，分配适合的存储空间。

较佳地，所述的步骤(2)具体包括以下步骤：

(2.1)按序从负载中取出控制状态；

(2.2)判断当前负载是否为输出中状态，如果是，则指向一个预设的AD通道；否则，切换到下一个负载；

(2.3)判断AD通道是否是属于ADC0的，如果是，则先对AD通道设置采样速率，再利用采样宽度计算出采样容量；否则，继续步骤(2.6)；

(2.4)将ADC0对应的AD通道地址和采样容量打包，生成请求信息；

(2.5)利用队列管理方式，把生成的请求信息加入到队列0中；

(2.6)判断AD通道是否是属于ADC1，如果是，则先对AD通道设置采样速率，再利用采样宽度计算出采样容量；否则，继续步骤(2.9)；

(2.7)将ADC1对应的AD通道地址和采样容量打包，生成请求信息；

(2.8)利用队列管理方式，把生成的请求信息加入到队列1中；

(2.9)判断是否查询过全部负载，如果是，则结束步骤；否则，则切换到下个负载，继续步骤(2.3)。