[发明专利]一种提高FCT测试平台安全性的方法和系统

说明书

本发明提供了一种提高FCT测试平台安全性的方法和系统，其中方法包括：接收第一电信号INA和第二电信号INB，且当第一电信号INA和第二电信号INB均满足各自的解锁条件时控制电控锁解锁。第一电信号INA由测试平台的上位机控制输出，第二电信号INB由人为控制输出。本发明测试过程中人工无法直接打开防护罩，能够保证功能测试过程的可靠性，同时保证功能测试平台操作人员的用电安全，避免触及测试强电。

技术领域

本发明属于FET测试技术领域，尤其是涉及一种提高FCT测试平台安全性的方法和系统。

背景技术

电子产品在工厂生产线的最后阶段，都会进行一个验证本产品功能是否满足设计要求的PCBA功能测试FCT，企业一般使用自研功能测试平台，为了保护测试平台的稳定、安全，平台都会配备防护罩。但是防护罩的锁扣通常都是在防护罩外部，并且只是常用的机械锁扣，仅由测试人员操作是否解锁，这种方法虽然实现了锁住防护罩的功能，但还是存在弊端：

1、无论是否在进行测试，测试人员可随时打开防护罩；测试进行中，若测试人员因为误操作，或者产线非测试人员打开防护罩，就会降低功能测试的可靠性，而且可能损坏当前被测试的电子产品；

2、如果是工业产品强电测试，在测试进行时，打开防护罩，则会造成严重的触电风险，这是非常致命的问题。

发明内容

本发明的目的是针对上述问题，提供一种提高FCT测试平台安全性的方法和系统。

为达到上述目的，本发明采用了下列技术方案：

一种提高FCT测试平台安全性的方法，包括：

接收第一电信号INA和第二电信号INB，且当第一电信号INA和第二电信号INB均满足各自的解锁条件时控制电控锁解锁。第一电信号INA由测试平台的上位机控制输出，第二电信号INB由人为控制输出。

在上述的提高FCT测试平台安全性的方法中，所述的第一电信号INA由测试平台根据当前是否处于测试状态输出；

所述的第二电信号INB由人为通过触点开关控制输出；

且当测试平台未处于测试状态时，输出的第一电信号INA满足其解锁条件；

当用户操作触点开关为开时，第二电信号INB满足其解锁条件。

在上述的提高FCT测试平台安全性的方法中，通过以下方式控制电控锁：

当接收到满足解锁条件的第二电信号INB时，检测测试平台是否处于测试状态，若否，则输出满足解锁条件的第一电信号INA以控制电控锁解锁，否则不输出满足解锁条件的第一电信号INA以使电控锁在测试状态下无法被解锁；不输出满足解锁条件的第二电信号INB可以为输出不满足解锁条件的电信号，也可以为不输出电信号；

在电控锁解锁之前先断开测试用电。

在上述的提高FCT测试平台安全性的方法中，通过与门电路控制电控锁：

当测试平台处于测试状态时，第一电信号INA为高电平信号；

当测试平台未处于测试状态时，第一电信号INA为低电平信号；

当用户操作触点开关为开时，第二电信号INB为高电平信号，否则第二电信号INB为低电平；

通过第一非门电路对第一电信号INA取反处理后输入至第一与门电路，通过滤波电路对第二电信号INB滤波处理后输入至第一与门电路，第一与门电路对两个电信号进行与处理后输出第三电信号Y，且在第三电信号Y为高电平时电控锁被解锁。

在上述的提高FCT测试平台安全性的方法中，所述的电控锁包括继电器电路和电磁锁，且电磁锁处于通电状态时解锁电控锁；

且本方法进一步包括：