[发明专利]一种饱水木质文物保存状态的快速无损检测方法

权利要求书

1.一种饱水木质文物保存状态的快速无损检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

清洗步骤，对饱水木质文物表面进行清洗；

测试步骤，使用光谱仪对所述饱水木质文物进行测试；

获取数据步骤，获取所述光谱仪测试后的光谱数据，并对所述光谱数据进行处理；

建立校正模型步骤，用于建立所述饱水木质文物保存状态的校正模型；

测定保存状态步骤，用于通过前述步骤测试所述饱水木质文物的光谱数据及聚类行为，测定其保存状态；

在所述建立校正模型步骤中：

筛选N数量的M类所述饱水木质文物，重复所述测试步骤和所述获取数据步骤；

利用化学计量学软件分析所述饱水木质文物的近红外光谱数据，建立所述饱水木质文物保存状态的校正模型；

在所述测定保存状态步骤中：

利用所述清洗步骤、所述测试步骤和所述获取数据步骤采集和处理待测所述饱水木质文物的近红外光谱数据；

利用所述建立校正模型步骤中建立的校正模型，通过待测所述饱水木质文物的近红外光谱数据与所述M类所述饱水木质文物的聚类行为，测定其保存状态。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述清洗步骤中：

去除所述饱水木质文物表面污渍，再使用去离子水清洗所述饱水木质文物的表面；

在去除所述饱水木质文物表面污渍时，采用清理刀、空气吹扫设备中的任一种。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述测试步骤中，测试条件为：

光谱扫描范围为350nm至2550nm，分辨率为0.5nm至15nm，测量时间为1秒至30秒，一次测量得到8组至40组光谱数据，将每次重复扫描光谱进行合并，得到一个新的平均后的光谱文件，每个测试位点采集1次至10次数据，相邻测试位点间距为20mm至300mm。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取数据步骤中，对所述光谱数据进行处理包括：

剔除异常光谱步骤；

原始光谱预处理步骤；

提取光谱特征步骤；

校正集样品的选择步骤。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述原始光谱预处理步骤，包括平滑、导数、多元散射校正和标准正态量变换的预处理。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述校正集样品的选择步骤中，选择不同保存状态、数量分布均匀的饱水木质文物近红外光谱数据，用于建立模型。

7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述清理刀包括第一刀架和第二刀架，所述第一刀架和所述第二刀架的端部设置有连接架；

所述第一刀架和所述第二刀架随外部施力而发生接触；

远离所述连接架侧的所述第一刀架的端部设置有第一刀片，远离所述连接架侧的所述第二刀架的端部设置有第二刀片；

远离所述第一刀片侧的所述连接架上设置有刮环，所述刮环的边缘设置有光滑部。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述第一刀架上设置有刀片滑架，所述刀片滑架上设置有刀片滑槽，所述刀片滑槽上连接有第三刀片，远离所述刀片滑架侧的所述第三刀片上连接有可拆卸刀片帽，靠近所述刮环侧的所述刀片滑架上设置有防护件。