[发明专利]光栅相位图处理方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请提供一种光栅相位图处理方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取待处理的光栅相位图；基于聚类算法，对所述光栅相位图中异常的像素点的相位值进行修正，通过聚类算法，对光栅相位图中异常的像素点的相位值进行修正，以实现对光栅相位图的去噪修复，继而降低后续的三维重建及图像映射的误差。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，具体而言，涉及一种光栅相位图处理方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

现有的结构光相位解码系统中，由于拍摄视角、环境光、物体颜色等因素的影响，导致解码出的光栅相位图中存在较多异常的像素点，使得后续的三维重建及图像映射存在较大的误差。

发明内容

鉴于此，本申请实施例的目的在于提供一种光栅相位图处理方法、装置、电子设备及存储介质，以解决上述问题。

第一方面，本申请实施例提供一种光栅相位图处理方法，所述方法包括：获取待处理的光栅相位图；基于聚类算法，对所述光栅相位图中异常的像素点的相位值进行修正。

在上述实现过程中，通过聚类算法，对光栅相位图中异常的像素点的相位值进行修正，以实现对光栅相位图的去噪修复，继而降低后续的三维重建及图像映射的误差。

基于第一方面，在一种可能的设计中，所述基于聚类算法，对所述光栅相位图中异常的像素点的相位值进行修正，包括：确定出所述光栅相位图中的各列像素点的第一相位值；所述第一相位值为所述光栅相位图中的像素点在水平投影方向上的相位值；确定各列像素点的第一相位值中的最大值和最小值的第一差值；确定所述第一差值大于预设差值的列为异常列；对所述光栅相位图中所述异常列的像素点的第一相位值进行修正。

为了快速地对光栅相位图进行修正，在上述实现过程中，确定出光栅相位图中的各列像素点的第一相位值；其中，第一相位值为光栅相位图中的像素点在水平投影方向上的相位值；由于异常的列中的像素点的第一相位值中的最大值和最小值之间的第一差值会比较大，因此，根据各列的第一差值，快速地确定出第一差值大于预设差值的异常列，并对异常列中的像素点的第一相位值进行修正，继而实现对异常的区域的快速修正。

基于第一方面，在一种可能的设计中，所述方法还包括：确定出所述光栅相位图中的各行像素点的第二相位值；所述第二相位值为所述光栅相位图中的像素点在垂直投影方向上的所述相位值；确定各行像素点的第二相位值中的最大值和最小值的第二差值；确定所述第二差值大于所述预设差值的行为异常行；对应的，对所述光栅相位图中所述异常列的像素点的第一相位值进行修正，包括：对所述光栅相位图中所述异常列的像素点的第一相位值，以及所述异常行的像素点的第二相位值进行修正。

为了快速地对光栅相位图进行修正，在上述实现过程中，确定出光栅相位图中的各行像素点的第二相位值；其中，第二相位值为光栅相位图中的像素点在垂直投影方向上的相位值；由于异常的行中的像素点的第二相位值中的最大值和最小值之间的第二差值会比较大，因此，根据各列的第二差值，快速地确定出第二差值大于预设差值的异常行，并对异常行中的像素点的第二相位值进行修正，继而实现对异常的区域的快速修正。

基于第一方面，在一种可能的设计中，所述对所述光栅相位图中所述异常列的像素点的第一相位值进行修正，包括：针对每个异常列，对该异常列的像素点的第一相位值根据大小顺序进行排序，得到排序结果；从所述排序结果中的最小值开始，基于预设步长，将所述排序结果中的第一相位值划分为多个相位聚类簇；确定出各个相位聚类簇中包含的元素的数量；确定所述数量小于阈值的聚类簇为异常聚类簇；对所述光栅相位图中与所述异常聚类簇对应的像素点的第一相位值进行修正。