[发明专利]MCU模式控制电路、控制方法及MCU在审
申请号: | 202110101672.1 | 申请日: | 2021-01-26 |
公开(公告)号: | CN112882422A | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 王浩远 | 申请(专利权)人: | 广州巨晟微电子股份有限公司 |
主分类号: | G05B19/042 | 分类号: | G05B19/042 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 张志辉 |
地址: | 510700 广东省广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | mcu 模式 控制电路 控制 方法 | ||
本发明涉及微电子技术领域,公开了一种MCU模式控制电路、控制方法及MCU,MCU模式控制电路包括:模式检测模块(100),包括:第一模式选择信号端、第二模式选择信号端及第三模式选择信号端,分别用于接收第一模式选择信号、第二模式选择信号及第三模式选择信号;频率检测模块(200),频率检测模块(200)输入端与第三模式选择信号端连接,输出端与模式检测模块(100)连接,用于检测所述第三模式选择信号的频率。本发明至少具有以下有益效果:能够使MCU可以更加稳定地工作在期望的模式下,适应不同的场景需求。
技术领域
本发明涉及微电子技术领域,特别涉及一种MCU模式控制电路、控制方法及MCU。
背景技术
随着信息化的快速发展,人们生活中的智能电子产品越来越多,像智能电饭煲、电磁炉、热水壶等电子产品日益渗透人们的日常生活当中,电子产品普及的同时也带动了MCU产业的发展,每一个智能家电产品里面都有一颗MCU主控芯片。在技术发展与竞争推进的过程中,客户对产品的质量要求越来越严格,对MCU性能的要求也越来越高,比如芯片的安全性能、良率要求、工作稳定性等。
现有技术中,在MCU芯片设计时,一般会基于MCU的各种使用场景设定不同的启动模式,比如量产测试模式、eflash测试模式、eflash擦写模式等等。在启动过程中根据需要,可以选择不同的启动模式,现有技术的普遍做法是通过在启动时对芯片的IO施加不同的电平组合从而进入不同的模式,通过该方法可以比较方便地改一下IO电平就能够进入不同的模式,但同时也有明显的缺点,就是容易误入模式,造成不可挽回的后果。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本发明提出一种MCU模式控制电路,能够使MCU可以更加稳定地工作在期望的模式下,适应不同的场景需求。
本发明还提出一种具有上述MCU模式控制电路的MCU模式控制方法。
本发明还提出一种具有上述MCU模式控制电路及包括MCU模式控制方法的MCU。
根据本发明的第一方面实施例的MCU模式控制电路,包括:模式检测模块100,所述模式检测模块100包括:第一模式选择信号端、第二模式选择信号端及第三模式选择信号端,分别用于接收第一模式选择信号、第二模式选择信号及第三模式选择信号;频率检测模块200,所述频率检测模块200输入端与所述第三模式选择信号端连接,输出端与所述模式检测模块100连接,用于检测所述第三模式选择信号的频率。
根据本发明的一些实施例,还包括:嵌入式闪存控制模块300,所述嵌入式闪存控制模块300的一端与所述模式检测模块100双向连接,用于生成控制信号,所述控制信号包括第一控制信号、第二控制信号与第三控制信号;嵌入式闪存400,所述嵌入式闪存400的一端与所述嵌入式闪存控制模块300的另一端双向连接;时钟管理模块500,输入端与所述模式检测模块100连接;复位管理模块600,输入端与所述模式检测模块100连接。
根据本发明的一些实施例,所述模式检测模块100还包括:第一模式选择单元110,所述第一模式选择单元110的第一输入端与所述第二模式选择信号端连接,第二输入端与所述第三模式选择信号端连接;第二模式选择单元120,所述第二模式选择单元120的第一输入端与所述第一模式选择单元110连接,第二输入端与所述第一模式选择信号端连接;第三模式选择单元130,所述第三模式选择单元130的第一输入端与所述第二模式选择单元120连接,第二输入端与所述嵌入式闪存控制模块300的第二控制信号端连接,第三输入端与所述嵌入式闪存控制模块300的第三控制信号端连接;数据选择单元140,所述数据选择单元140的第一输入端与所述第三模式选择信号端连接,第二输入端与所述频率检测模块200连接,控制端与所述嵌入式闪存控制模块300的第一控制信号端连接。
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