[发明专利]数据处理方法及装置、计算设备在审
申请号: | 202110104038.3 | 申请日: | 2021-01-26 |
公开(公告)号: | CN112784998A | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 张滋润;章祯梁;谭剑;印卧涛 | 申请(专利权)人: | 阿里巴巴集团控股有限公司 |
主分类号: | G06N20/00 | 分类号: | G06N20/00;G06N7/00 |
代理公司: | 北京太合九思知识产权代理有限公司 11610 | 代理人: | 刘戈;曹威 |
地址: | 英属开曼群岛大开*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数据处理 方法 装置 计算 设备 | ||
1.一种数据处理方法,其特征在于,包括:
检测目标用户发起的参数优化请求;
响应于参数优化请求,确定多个子参数构成的第一参数空间;
从所述多个子参数中选择N个子参数构成第二参数空间;
基于所述第二参数空间中采样获得的多个采样参数,确定满足参数使用条件的目标参数;
为所述目标用户输出所述目标参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述第二参数空间中采样获得的多个采样参数,确定满足参数使用条件的目标参数包括:
在所述第二参数空间中使用多个采样函数分别进行参数采样,获得所述多个采样函数分别对应的采样参数,以获得所述多个采样参数;
将所述多个采样参数分别从所述第二参数空间映射至所述第一参数空间,获得多个目标采样参数;
基于所述多个目标采样参数,确定满足参数使用条件的所述目标参数。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在所述第二参数空间中使用多个采样函数分别进行参数采样,获得所述多个采样函数分别对应的采样参数,以获得所述多个采样参数包括:
确定所述第二参数空间的参数采样策略;
基于所述参数采样策略,在所述第二参数空间中使用所述多个采样函数分别进行参数采样,获得所述多个采样函数分别对应的采样参数,以获得所述多个采样参数。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述确定所述第二参数空间的参数采样策略包括:
获取所述第二参数空间中的多个基础参数;
对所述多个基础参数的使用结果进行估计处理,获得所述多个基础参数的参数估计结果;
根据所述参数估计结果,确定所述第二参数空间的参数采样策略。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述获取所述第二参数空间中的多个基础参数包括:
随机生成所述第一参数空间中的多个初始参数;
将所述多个初始参数从所述第一参数空间映射到所述第二参数空间获得所述多个基础参数;
所述对所述多个基础参数的使用结果进行估计处理,获得所述多个基础参数的参数估计结果包括:
将所述多个初始参数输入预设目标函数,计算获得所述多个初始参数分别对应的目标值;
基于所述多个初始参数分别对应的目标值,采用估计算法,确定所述多个基础参数分别对应的目标值;
根据所述多个基础参数分别对应的目标值,生成所述参数估计结果。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个基础参数分别对应的目标值,生成所述参数估计结果包括:
在所述第二参数空间中,对所述多个基础参数分别对应的目标值的分布模型进行拟合处理,获得概率分布模型;
确定所述概率分布模型为所述参数估计结果;
所述根据所述参数估计结果,确定所述第二参数空间的参数采样策略包括:
根据所述概率分布模型,确定所述第二参数空间的参数采样策略。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述参数采样策略包括:采样趋势信息以及采样间隔信息;所述根据所述概率分布模型,确定所述第二参数空间的参数采样策略包括:
根据所述概率分布模型对应的均值、方差和/或极值点,确定所述第二参数空间的采样趋势信息以及采样间隔信息。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述基于所述参数采样策略,在所述第二参数空间中使用所述多个采样函数分别进行参数采样,获得所述多个采样函数分别对应的采样参数,以获得所述多个采样参数包括:
在所述第二参数空间中,按照所述采样趋势信息以及所述采样间隔信息分别使用所述多个采样函数进行参数采样,获得所述多个采样函数分别对应的采样参数,以获得所述多个采样参数。
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