[发明专利]确定水蒸气的饱和温度的方法、装置、电子设备和介质

权利要求书

1.一种确定水蒸气的饱和温度的方法，其特征在于，包括：

获取水蒸气的绝对压力；

基于所述绝对压力，利用高阶函数，确定出所述水蒸气的饱和温度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述高阶函数是通过如下步骤得到的：

获取训练样本集合，其中，所述训练样本集合中的训练样本包括样本水蒸气的样本绝对压力；

将训练样本中的样本水蒸气的样本绝对压力代入标准饱和温度公式，得到所述样本水蒸气的样本饱和温度；

根据水和水蒸气的热力性质表和所述样本水蒸气的样本绝对压力，计算出所述样本水蒸气的标准饱和温度；

基于所述样本饱和温度和所述标准饱和温度，确定饱和温度误差；

基于所述饱和温度误差，生成高阶函数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述饱和温度误差，生成高阶函数，包括：

确定所述饱和温度误差是否满足预设条件；

响应于确定不满足，调整所述标准饱和温度公式的参数，得到调整后的标准饱和温度公式；

基于所述调整后的标准饱和温度公式，确定调整后的饱和温度误差；

响应于确定所述调整后的饱和温度误差满足所述预设条件，将所述调整后的标准饱和温度公式确定为所述高阶函数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述高阶函数包括：

t(P)＝-10.9858534680823×P^1.5+87.0639896853169×P^1.25-282.92113545391×P+487.911303047971×P^0.75-483.854281154476×P^0.5+440.701716149279×P^0.25-58.0848701830052，其中，P表示水蒸气的绝对压力，单位为MPa；T表示水蒸气的饱和温度，单位为℃。

5.根据权利要求1-4之一所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述水蒸气的饱和温度传输至具有显示功能的目标设备，以及控制所述目标设备显示所述水蒸气的饱和温度。

6.一种确定水蒸气的饱和温度的装置，其特征在于，包括：

获取单元，被配置成获取水蒸气的绝对压力；

确定单元，被配置成基于所述绝对压力，利用高阶函数，确定出所述水蒸气的饱和温度。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述高阶函数是通过如下步骤得到的：

获取训练样本集合，其中，所述训练样本集合中的训练样本包括样本水蒸气的样本绝对压力；

将训练样本中的样本水蒸气的样本绝对压力代入标准饱和温度公式，得到所述样本水蒸气的样本饱和温度；

根据水和水蒸气的热力性质表和所述样本水蒸气的样本绝对压力，计算出所述样本水蒸气的标准饱和温度；

基于所述样本饱和温度和所述标准饱和温度，确定饱和温度误差；

基于所述饱和温度误差，生成高阶函数。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述基于所述饱和温度误差，生成高阶函数，包括：

确定所述饱和温度误差是否满足预设条件；

响应于确定不满足，调整所述标准饱和温度公式的参数，得到调整后的标准饱和温度公式；

基于所述调整后的标准饱和温度公式，确定调整后的饱和温度误差；

响应于确定所述调整后的饱和温度误差满足所述预设条件，将所述调整后的标准饱和温度公式确定为所述高阶函数。

9.一种电子设备，包括：

一个或多个处理器；

存储装置，其上存储有一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-4中任一所述的方法。

10.一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其中，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1-4中任一所述的方法。