[发明专利]一种基于聚类和实例硬度的过采样算法在审

专利信息
申请号: 202110107719.5 申请日: 2021-01-27
公开(公告)号: CN112819060A 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: 王垚;孙国梓 申请(专利权)人: 南京邮电大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 曹坤
地址: 210003 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 实例 硬度 采样 算法
【权利要求书】:

1.一种基于聚类和实例硬度的过采样算法,其特征在于,具体步骤包括如下:

步骤(1)、输入类别不平衡的数据,得到大类数据和小类数据;识别其中的小类数据,并测算小类数据的实例硬度;

步骤(2)、采用Canopy聚类方法,对测算的小类数据进行预聚类,通过预聚类得到聚类个数;

步骤(3)、将得到的聚类个数作为Kmeans算法的聚类参数,对小类数据再次聚类,从而得到不同的簇;

步骤(4)、识别不同的簇对应的实例硬度,并计算各簇的平均硬度和方差;

步骤(5)、根据平均硬度和方差,按照统计学最优分配原理计算各簇应生成的数据量;

步骤(6)、对各簇样本按硬度大小排序,选择其中低硬度样本作为各簇对应的安全区域;

步骤(7)、在各簇对应的安全区域中,分别由插值法生成指定数量的数据。

2.根据权利要求1所述的一种基于聚类和实例硬度的过采样算法,其特征在于,在所述步骤(1)中,通过测算小类数据的实例硬度的操作步骤如下:

(1.1)、按照欧式距离计算各小类样本的K个近邻样本;

(1.2)、求出K个近邻样本中类别相异的样本数量;

(1.3)、将类别相异的样本数量与K的比值,作为其实例硬度;

具体公式如下式所示:

其中,X表示小类数据,KDN(X)表示测算X的实例硬度的一种方法;KNN(X)表示X的K个距离最近的样本的集合,Z表示X周围的K个近邻样本中和X类别相异的样本。

3.根据权利要求1所述的一种基于聚类和实例硬度的过采样算法,其特征在于,在所述步骤(4)中,计算各簇的平均硬度和方差的具体操作步骤如下:

(4.1)、通过索引识别各聚类中的样本分别对应的实例硬度,并计算各簇对应的硬度均值,得到(H1,H2,…,HM);

(4.2)、计算各簇对应的标准差,得到各簇标准差(S1,S2,…,SM)。

4.根据权利要求1所述的一种基于聚类和实例硬度的过采样算法,其特征在于,在所述步骤(5)中,按照统计学最优分配原理计算各簇应生成的数据量具体是指:将步骤(3)中得到的各个簇,作为统计学最优分配中的调查单位——层,并将步骤(4)得到的簇硬度均值,作为最优分配所涉及的调查费用,按照下式计算簇Ci中应生成的数据量:

其中,n表示过采样过程中生成的总数据量,ni表示Ci被分配的待生成的数据量,Ωi表示分配量与总量的比值。

5.根据权利要求1所述的一种基于聚类和实例硬度的过采样算法,其特征在于,在所述步骤(6)中,对各簇样本按硬度大小排序的具体操作步骤如下:

(6.1)、对各簇中样本,按照其KDN值的大小进行降序排序;

(6.2)、排序后,选取前若干低KDN值的样本组合为各簇对应的安全区域;其中,所述的安全区域表示低硬度数据组成的集合。

6.根据权利要求1所述的一种基于聚类和实例硬度的过采样算法,其特征在于,在所述步骤(7)中,由插值法生成指定数量的数据的具体是指:

对得到的安全区域(U1,U2,…,UM),在各安全区域中分别随机选择ni对样本,由插值法生成ni个数据,最后将所有新生成数据汇总;

其中,所述的插值法如下式所示:

Xnew=X1+(X2-X1)×rand(0,1)

式中,X1表示每对样本中第一个选中的样本,X2表示另一个样本,rand(0,1)表示值大于且0小于1的随机数,Xnew表示新生成的样本。

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