[发明专利]膜电极构造体的检查方法

说明书

本发明提供一种膜电极构造体(1)的检查方法，包括下述工序：第1工序，其将能够检测第1电极催化剂层(12)及第2电极催化剂层(22)的元素和金属异物(40)的元素的检测介质沿着从第1电极层(12)侧朝向第2电极层(22)侧的厚度方向发送，获得检测信号的厚度方向分布；以及第2工序，其利用解析单元根据厚度方向分布中的检测信号的强度来确定金属异物(40)在厚度方向上的位置，并且，利用解析单元根据厚度方向分布中的检测信号的强度来确定第1电极催化剂层(12)及第2电极催化剂层(22)或电解质膜(30)在厚度方向上的位置。

技术领域

本发明涉及膜电极构造体的检查方法。

背景技术

以往，已知对具备由固体高分子形成的电解质膜的膜电极构造体的膜厚进行测定的方法(例如，参见日本特开2019-66246号公报)。

发明内容

发明要解决的课题

即使电解质膜的膜厚充分，在膜电极构造体内混入有金属异物的情况下，也存在膜电极构造体的耐久性显著降低的可能。因此，考虑使用透射X射线检查装置确认膜电极构造体中是否存在金属异物，并在存在金属异物的情况下废弃。

但是，已知即使在膜电极构造体中存在金属异物的情况，若金属异物存在于气体扩散层并与电极催化剂层或电解质膜充分分离也没有问题。

另外，在膜电极构造体中存在金属异物的情况下，在将电解质膜、电极催化剂层、气体扩散层彼此层叠制造时，若能够确定金属异物在哪个制造工序中混入，则能够通过进行工序改善来提高膜电极构造体的成品率。

本发明鉴于以上情况，目的在于提供一种能够确定膜电极构造体内的金属异物在厚度方向上的位置的膜电极构造体的检查方法。

用于解决课题的手段

为了达成上述目的，本发明的膜电极构造体的检查方法对由具有第1电极催化剂层及第1气体扩散层的第1电极层和具有第2电极催化剂层及第2气体扩散层的第2电极层将电解质膜夹入而构成的膜电极构造体进行检查，其特征在于，包括下述工序：

第1工序，其将能够检测所述第1电极催化剂层及所述第2电极催化剂层或所述电解质膜的元素和所述金属异物的元素的检测介质，以使焦点沿着从所述第1电极层侧朝向所述第2电极层侧的厚度方向移动的方式发送，获得检测信号的厚度方向分布；以及

第2工序，其利用解析单元根据所述厚度方向分布中的所述检测信号的强度来确定金属异物在厚度方向上的位置，并且，利用所述解析单元根据所述厚度方向分布中的所述检测信号的强度来确定所述第1电极催化剂层及所述第2电极催化剂层或所述电解质膜在厚度方向上的位置。

根据本发明，能够确定膜电极构造体内的金属异物在厚度方向上相对于第1电极催化剂层及第2电极催化剂层或电解质膜的位置。

另外，在本发明中，

优选具备第3工序，其将所述第2工序中确定的所述金属异物在厚度方向上的位置与所述第1电极催化剂层及所述第2电极催化剂层或所述电解质膜在厚度方向上的位置进行比较，在所述金属异物与所述第1电极催化剂层及所述第2电极催化剂层或所述电解质膜在厚度方向分离规定值以上的情况下，判定为合格品。

根据本发明，在金属异物与第1电极催化剂层及第2电极催化剂层或电解质膜在厚度方向分离规定值以上的情况下，能够作为合格品处理。

另外，在本发明中，

优选所述规定值设定为所述金属异物存在于所述第1气体扩散层或所述第2气体扩散层中的情况下的值。

根据本发明，在金属异物存在于第1气体扩散层或第2气体扩散层中的情况下，能够判断为合格品。

另外，在本发明中，