[发明专利]在电磁干扰的存在下的高精度和高稳定性磁位移传感器在审

专利信息
申请号: 202110109507.0 申请日: 2021-01-25
公开(公告)号: CN113310393A 公开(公告)日: 2021-08-27
发明(设计)人: 塞巴斯蒂安·蒂克西尔;迈克尔·休斯 申请(专利权)人: 霍尼韦尔有限公司
主分类号: G01B7/02 分类号: G01B7/02;G01B7/06
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 蒋骏;陈岚
地址: 加拿大安大略*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 电磁 干扰 在下 高精度 稳定性 位移 传感器
【权利要求书】:

1.一种用于监测材料片材的特性的系统(2),其中所述片材具有第一侧面和第二侧面,所述系统包括:

第一构件(4),所述第一构件邻近所述材料片材的所述第一侧面设置,所述第一构件具有用于产生磁场(18,24)的装置;

第二构件(6),所述第二构件邻近所述材料片材的所述第二侧面设置,所述第二构件具有第一磁传感器(20)和第二磁传感器(22),所述第一磁传感器检测所述磁场并产生第一电信号,所述第二磁传感器检测所述磁场并产生第二电信号;和

用于分析所述第一电信号和所述第二电信号的装置(40),所述装置用于确定所述第一构件和所述第二构件(4,6)之间的距离的变化。

2.根据权利要求1所述的系统(2),所述系统还包括第三传感器(10,14),所述第三传感器测量所述材料片材的特性或特征。

3.根据权利要求1所述的系统(2),其中所述第一构件(4)具有第一安装头部,并且所述第二构件(6)具有第二安装头部,并且两个安装头部限定间隙(54),所述材料片材被定位在所述间隙中,并且所述用于分析所述第一电信号和所述第二电信号的装置(40)确定所述间隙(54)的距离。

4.根据权利要求3所述的系统(2),所述系统还包括:位于所述第一安装头部中的第一距离传感器(10),所述第一距离传感器可操作以确定所述第一距离传感器(10)和所述材料片材的所述第一侧面之间的第一距离;和位于所述第二安装头部中的第二距离传感器(14),所述第二距离传感器可操作以确定所述第二距离传感器(14)和所述材料片材的所述第二侧面之间的第二距离。

5.根据权利要求1所述的系统(2),其中所述第一磁传感器(20)包括第一磁通门传感器,并且所述第二磁传感器(22)包括第二磁通门传感器。

6.根据权利要求1所述的系统(2),其中所述第一磁传感器(20)和所述第二磁传感器(22)串联定位,其中用于产生磁场(18)的所述装置包括电磁线圈或永磁体,并且其中所述第一磁传感器和所述第二磁传感器(20,22)以及所述电磁线圈或永磁体沿轴线取向。

7.根据权利要求1所述的系统(2),其中用于分析所述第一电信号和所述第二电信号的所述装置(40)分析所述第一电信号和所述第二电信号之间的比率或差值,以导出所述第一构件和所述第二构件(4,6)之间的所述距离。

8.根据权利要求1所述的系统(2),所述系统具有可滑动地移动的框架(62),所述可滑动地移动的框架具有(i)上部细长刚性构件(63)和(ii)下部刚性细长构件(65),所述下部刚性细长构件平行于所述上部细长刚性构件(63)。

9.一种测量幅材厚度的方法,所述幅材具有第一侧面和第二侧面,所述方法包括:

提供位于所述幅材(8)的所述第一侧面上的第一距离传感器(10);

用所述第一距离传感器(10)确定所述第一距离传感器(10)相对于所述幅材(8)的所述第一侧面的位置;

提供位于所述幅材(8)的所述第二侧面上的第二距离传感器(14);

用所述第二距离传感器(14)确定所述第二距离传感器(14)相对于所述幅材(8)的所述第二侧面的位置;

在相对于所述幅材(8)的所述第一侧面上的所述第一距离传感器(10)的固定位置处产生磁场;

将第一磁传感器和第二磁传感器(20,22)定位在相对于所述幅材(8)的所述第二侧面上的所述第二距离传感器(14)的相应固定的第一位置和第二位置处;

用所述第一磁传感器和所述第二磁传感器(20,22)测量所述磁场;以及

由所述第一磁传感器和所述第二磁传感器(20,22)对所述磁场的测量结果来确定所述幅材(8)的厚度。

10.根据权利要求9所述的方法,其中所述幅材(8)包括涂覆有阳极或阴极材料(28)的金属基底(26)。

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