[发明专利]一种光电阴极及其制备方法与应用在审
申请号: | 202110110372.X | 申请日: | 2021-01-27 |
公开(公告)号: | CN112951683A | 公开(公告)日: | 2021-06-11 |
发明(设计)人: | 黄珊珊;黄辉廉;刘雪珍;刘建庆;杨文奕 | 申请(专利权)人: | 中山德华芯片技术有限公司 |
主分类号: | H01J1/34 | 分类号: | H01J1/34;H01J40/06;H01J9/12;B82Y30/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 伍传松 |
地址: | 528437 广东省中山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光电 阴极 及其 制备 方法 应用 | ||
1.一种光电阴极,其特征在于:包括衬底层和在衬底层表面刻蚀形成的纳米柱阵列;所述纳米柱阵列包括若干个纳米柱,每个所述纳米柱表面生长有量子点和金属纳米颗粒。
2.根据权利要求1所述的一种光电阴极,其特征在于:所述衬底层为Ge、GaAs、InP、GaSb、Si、GaN和蓝宝石中的至少一种。
3.根据权利要求1所述的一种光电阴极,其特征在于:所述量子点为GaAs、InGaAs、InGaAsP、InGaSb、InGaN和InAsSb中的至少一种。
4.根据权利要求1所述的一种光电阴极,其特征在于:所述衬底层的制备材料带隙宽度大于量子点的带隙宽度。
5.根据权利要求1所述的一种光电阴极,其特征在于:所述金属纳米颗粒为金纳米颗粒和银纳米颗粒中的至少一种。
6.根据权利要求1所述的一种光电阴极,其特征在于:所述纳米柱的高度为200~3000nm,所述纳米柱的直径为50~500nm。
7.根据权利要求1所述的一种光电阴极,其特征在于:所述量子点的直径为5~30nm。
8.根据权利要求1所述的一种光电阴极,其特征在于:所述金属纳米颗粒的直径为2~10nm。
9.一种制备如权利要求1至8任一项所述的光电阴极的方法,其特征在于:包含以下步骤:
S1、在衬底层表面刻蚀出纳米柱阵列;
S2、在所述纳米柱阵列表面制作量子点和金属纳米颗粒,得到所述光电阴极。
10.根据权利要求1至8任一项所述的光电阴极在光电探测器上的应用。
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