[发明专利]雷达高精度对准及测试系统在审
申请号: | 202110114752.0 | 申请日: | 2021-01-27 |
公开(公告)号: | CN114814743A | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 侯强;张志伟;薛甬申;潘卫;谷静 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40;G01R29/10 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永强;李稷芳 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 雷达 高精度 对准 测试 系统 | ||
本申请公开一种雷达高精度对准及测试系统。系统包括:可进行多方位移动的转台,转台上设有雷达;可进行多方位移动的标准待测物载具,标准待测物载具上设有标准待测物;标准待测物与雷达相对设置,并用于反射雷达射出的电磁波;标准待测物载具上还设有第一激光接收组件,转台上还设有第二激光接收组件;第一激光发射器设于第一激光接收组件的一侧,且背离第二激光接收组件;通过调节转台和标准待测物载具的位置,第一激光发射器发射的激光照射到第一激光接收组件和第二激光接收组件上的相同位置,以对准雷达与标准待测物。
技术领域
本申请实施例涉及雷达测试技术领域,尤其涉及一种雷达高精度对准及测试系统。
背景技术
随着高级驾驶辅助系统(Advanced Driving Assistance System,ADAS)技术的发展,雷达作为ADAS技术中核心之一的传感器而受到广泛关注。雷达在安装交付之前,需要配合标准待测物(如角反)进行一系列的暗室环境测试。然而,在传统的雷达测试系统中,难以将雷达与标准待测物进行高精度对准,雷达与标准待测物之间容易出现位置偏差,从而导致暗室环境测试的结果不准确。此外,在传统的雷达测试系统中,其也不能在暗室环境中实现雷达在模拟工况下的性能测试。
发明内容
本申请提供一种雷达高精度对准及测试系统,能够将雷达与标准待测物之间进行高精度对准,以提高雷达在暗室环境测试结果的准确性。
为了解决上述技术问题,本申请提供一种雷达高精度对准及测试系统,其包括:可进行多方位移动的转台,雷达固接于所述转台,并用于发射和接收电磁波。可进行多方位移动的标准待测物载具,标准待测物固接于所述标准待测物载具。所述标准待测物与所述雷达相对设置,并用于反射所述雷达射出的电磁波。第一激光接收组件固接于所述标准待测物载具,第二激光接收组件固接于所述转台;所述第一激光接收组件与所述标准待测物之间的相对位置,等同于所述第二激光接收组件与所述雷达之间的相对位置。第一激光发射器设于所述第一激光接收组件的一侧,且背离所述第二激光接收组件;通过调节所述转台和所述标准待测物载具的位置,第一激光发射器发射的激光照射到第一激光接收组件和第二激光接收组件上的相同位置,以对准所述雷达与所述标准待测物。应当理解,基于上述各结构之间的配合,可以实现雷达与标准待测物之间的高精度对准,以提高雷达在暗室环境测试结果的准确性。
一些实施例中,所述第一激光接收组件包括第一激光反射镜和第一激光接收器,所述第一激光反射器用于反射所述第一激光发射器发射的激光,以照射至所述第一激光接收器。所述第二激光接收组件包括第二激光反射镜和第二激光接收器,所述第二激光反射器用于反射所述第一激光发射器发射的激光,以照射至所述第二激光接收器。基于此,可以实现第一接收组件和第二接收组件之间的对准,从而实现雷达与标准待测物之间的对准。
一些实施例中,所述第一激光接收器位于所述标准待测物的顶部,所述第一激光接收器具有第一接收面,所述第一激光反射器具有与所述第一接收面呈45°夹角的第一反射面,所述第一激光发射器发射的激光通过所述第一反射面反射后,垂直入射至所述第一接收面。所述第二激光接收器位于所述雷达上,所述第二激光接收器具有第二接收面,所述第二激光反射器具有与所述第二接收面呈45°夹角的第二反射面,所述第一激光发射器发射的激光通过所述第二反射面反射后,垂直入射至所述第二接收面。
一些实施例中,所述标准待测物载具包括升降杆和吸波屏风,所述标准待测物固接于所述升降杆,所述吸波屏风设于所述升降杆和所述转台之间。所述升降杆用于带动所述标准待测物上升,并使所述标准待测物对应反射所述雷达发射的电磁波。所述升降杆还用于带动所述标准待测物下降,并使所述标准待测物被所述吸波屏风遮挡。应当理解,通过该吸波屏风,可以根据使用需求,以遮挡或者不遮挡标准待测物,以便于对雷达进行相关的性能测试。
一些实施例中,所述系统还包括遮挡装置,所述遮挡装置固接于所述转台,并用于对所述雷达发射的电磁波进行遮挡。应当理解,虽然遮挡装置可以对电磁波进行遮挡,但是该电磁波仍可以透过该遮挡装置而继续传播,以被接收;基于此,可以对雷达在遮挡情况下进行相关的性能测设。
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