[发明专利]基于对抗学习的无监督高光谱图像变化检测方法有效
申请号: | 202110114931.4 | 申请日: | 2021-01-28 |
公开(公告)号: | CN112784777B | 公开(公告)日: | 2023-06-02 |
发明(设计)人: | 雷杰;李美琪;谢卫莹;李云松;房烁 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06V20/13 | 分类号: | G06V20/13;G06V10/44;G06V10/764;G06V10/82;G06V10/77;G06N3/0475;G06N3/045;G06N3/094 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 对抗 学习 监督 光谱 图像 变化 检测 方法 | ||
1.一种基于对抗学习的无监督高光谱图像变化检测方法,其特征在于,包括如下:
(1)基于光谱角距离约束构建一个六层的生成网络E,并将该生成网络的第三层,即光谱特征层与判别网络D的输入层连接,组成光谱映射网络Q;
(2)用两个光谱映射网络Q组成双时相的同样结构的光谱映射网络Q1和Q2,其中,Q1和Q2中的双时相的生成网络E1和E2的损失函数形式相同,均为Q1和Q2中的双时相的判别网络D1和D2的损失函数形式相同,均为
(3)将高光谱变化检测数据集中的双时相高光谱图像分别输入到双时相的同样结构的光谱映射网络Q1和Q2中各迭代训练1500次,得到两个训练好的光谱映射网络;
(4)从已训练好的两个光谱映射网络的生成网络E1和E2中,分别提取其两个光谱特征层得到双时相光谱维特征图H1和H2;
(5)对双时相光谱维特征图H1和H2分别进行主成分分析,得到双时相一维光谱维主特征图F1和F2;
(6)对双时相一维光谱维主特征图F1和F2分别进行空间特征加强,得到加强后的双时相一维光谱维主特征图Y1和Y2:
(6a)将双时相一维光谱维主特征图分别通过三个具有不同属性值的空间属性滤波器进行多属性优化,得到双时相的三个一维属性特征图;
(6b)将双时相的三个属性特征图分别加权融合,得到双时相一维空间属性优化特征图A1和A2:
A1=α1×a11+α2×a12+α3×a13
A2=α1×a21+α2×a22+α3×a23
其中,α1、α2和α3分别表示三个不同属性值的空间属性滤波器对应的三个加权系数,其取值是在(0,1)内选取的数,且要求α1、α2和α3的和为1;a11、a12和a13分别表示第一个时相的三个属性特征图;a21、a22和a23分别表示第二个时相的三个属性特征图;
(6c)将双时相一维空间属性优化特征图A1和A2,分别通过引导滤波器进行空间边缘优化,得到双时相一维空间边缘优化特征图G1和G2;
(6d)将双时相一维空间边缘优化特征图G1和G2分别输入到自抑制函数,得到空间特征加强后的双时相一维光谱维主特征图Y1和Y2,分别表示如下:
其中,Y1[i]和Y2[i]分别表示空间特征加强后的双时相一维光谱维主特征图Y1和Y2的第i个元素;β和γ分别表示两个抑制系数,其取值都是在(0,1)内选取的数;G1[i]和G2[i]表示双时相一维空间边缘优化特征图G1和G2中第i个元素;
(7)将空间特征加强后的双时相一维光谱维主特征图Y1和Y2分别通过全局自适应阈值算法进行二值化,得到两个不同时相的二值化结果图B1和B2;
(8)计算双时相二值化结果图B1和B2的残差得到高光谱图像变化检测结果图R:
R=B1-B2。
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