[发明专利]窗口刻度尺的自适应调整方法、装置、电子设备及介质

权利要求书

1.一种窗口刻度尺的自适应调整方法，其特征在于，窗口中包括刻度尺，所述刻度尺包括刻度线，所述刻度线用于表征所述窗口的任一边的尺寸，所述方法包括：

根据窗口调整指令调整所述窗口的显示尺寸；

确定在调整后的窗口的所述任一边上的像素数量；

基于所述像素数量，确定对所述刻度尺进行调整后的第一缩放倍数和所述刻度尺的偏移量；

基于所述第一缩放倍数、所述偏移量以及预设的刻度线相关参数，确定对所述刻度线进行调整后的刻度线的位置和刻度值；

根据所述调整后的刻度线的位置和刻度值，在所述窗口内显示调整后的刻度线。

2.根据权利要求1所述的窗口刻度尺的自适应调整方法，其特征在于：所述任一边的两个端点中其中一个为基准点，所述基于所述像素数量，确定对所述刻度尺进行调整后的第一缩放倍数和所述刻度尺的偏移量，包括：

基于所述像素数量、所述窗口调整前所述刻度线的零刻度相对所述基准点的初始像素个数、窗口调整前所述刻度尺的缩放倍数、所述刻度尺相关参数以及所述刻度尺未缩放时一个单位刻度对应的单位像素个数，确定对所述刻度尺进行调整后的第一缩放倍数和所述刻度尺的偏移量。

3.根据权利要求2所述的窗口刻度尺的自适应调整方法，其特征在于：所述刻度尺相关参数包括所述刻度尺的正量程、负量程和所述刻度尺的最大缩放倍数；

基于下式计算对所述刻度尺进行调整后的第一缩放倍数和所述刻度尺的偏移量：

在W＜Vmax×L×s－x时，确定所述第一缩放倍数为所述窗口调整前的缩放倍数，确定所述刻度尺的偏移量为所述窗口调整前的刻度尺的偏移量；其中，所述W为所述像素数量，Vmax为所述正量程，所述L为所述刻度尺未缩放时一个单位刻度对应的单位像素个数，所述s为所述窗口调整前刻度尺的缩放倍数，所述x为所述窗口调整前刻度尺的零刻度相对所述基准点的初始像素个数，所述偏移量为所述窗口调整后所述刻度线的零刻度相对所述基准点的像素个数；

在Vmax×L×s－x＜W＜(Vmax－Vmin)×L×s时，确定所述第一缩放倍数为所述窗口调整前的缩放倍数，其中，所述Vmin为所述负量程，基于下式计算所述偏移量X：X＝Vmax×L×s－W；

在(Vmax－Vmin)×L×s＜W＜(Vmax－Vmin)×L×S时，其中，所述S为所述刻度尺的最大缩放倍数；基于下式计算所述第一缩放倍数：S1＝W÷((Vmax－Vmin)×L)；基于下式计算所述偏移量X：X＝Vmax×L×S1－W。

4.根据权利要求2所述的窗口刻度尺的自适应调整方法，其特征在于，所述刻度线包括第一刻度线，所述刻度线相关参数包括所述刻度线预设的缩放基数、所述刻度尺和刻度线未缩放时一个单位刻度被第一刻度线分成的预设份数；

所述基于所述第一缩放倍数、所述偏移量以及预设的刻度线相关参数，确定对所述刻度线进行调整后的刻度线的位置和刻度值，包括：

基于所述第一缩放倍数、所述刻度线预设的缩放基数，计算对所述刻度线进行调整时的所述刻度线的第二缩放倍数；

基于所述第二缩放倍数，以及所述刻度尺和刻度线未缩放时一个单位刻度被第一刻度线分成的预设份数，计算对所述刻度线进行调整后的两个所述第一刻度线之间的像素距离；

基于所述刻度尺和刻度线未缩放时一个单位刻度被第一刻度线分成的预设份数、刻度线预设的缩放基数，计算对所述刻度线进行调整后的两个所述第一刻度线之间的刻度距离；

根据所述偏移量、所述调整后的两个所述第一刻度线之间的像素距离和所述调整后的两个所述第一刻度线之间的刻度距离，确定对所述刻度线进行调整后的第一刻度线的位置和刻度值。

5.根据权利要求4所述的窗口刻度尺的自适应调整方法，其特征在于，所述根据所述偏移量、所述调整后的两个所述第一刻度线之间的像素距离和所述调整后的两个所述第一刻度线之间的刻度距离，确定对所述刻度线进行调整后的第一刻度线的位置和刻度值，包括：

基于所述偏移量、所述调整后的两个所述第一刻度线之间的像素距离确定所述窗口中对所述刻度线进行调整后的第一刻度线的位置；

基于所述偏移量、所述调整后的两个所述第一刻度线之间的刻度距离确定对所述刻度线进行调整后的第一刻度线的刻度值。