[发明专利]获取逻辑系统设计的初始状态的方法、电子设备及介质

说明书

本公开实施例提供的获取逻辑系统设计的初始状态的方法、电子设备及介质，所述逻辑系统设计包括多个模块，所述多个模块包括第一模块和第二模块，所述方法包括：获得所述多个模块的运行周期；基于所述多个模块的运行周期，确定所述逻辑系统设计的系统运行周期；基于所述系统运行周期分别生成所述多个模块的复位信号；以及基于所述多个模块的复位信号分别获得所述多个模块的初始状态，可以用于设置模块的相应状态以供验证等，克服现有技术的问题且简单高效。

技术领域

本说明书一个或多个实施例涉及计算机软件技术领域，尤其涉及一种获取逻辑系统设计的初始状态的方法、电子设备及介质。

背景技术

在逻辑系统的设计中，需要对逻辑系统设计进行测试和验证。被测试和验证的逻辑系统设计可以被称为待测设计(Device Under Test，DUT)。

验证一个逻辑系统设计的方法有很多种。其中，形式验证是一种证明或证伪逻辑系统设计的形式属性的正确性的方法。例如，假定逻辑系统设计的设计是正确的，那么一个示例性的形式属性就必然正确。在这个前提下，如果通过形式验证可以证伪该形式属性，则证明了逻辑系统设计存在缺陷，需要修改设计。例如，形式验证可以通过证明该形式属性存在反例来尝试证伪该形式属性，或者证明该形式属性永远正确来证明该形式属性。

为了进行形式验证，需要将逻辑系统设计抽象地转换为数学形式。例如，可以将逻辑系统设计的运行转换为包括各种状态转换的状态机。状态机在各个状态之间的跳转就代表了逻辑系统设计的运行。通过证明状态机存在错误的状态或者状态始终正确就可以相应地证伪或证明一个形式属性。

为了驱动状态机的运行，需要确定状态机的初始状态。由于形式验证并不完整地仿真逻辑系统设计。因此，在形式验证中，逻辑系统设计的系统运行周期是未指定的，故而初始状态也是未知的。当前的逻辑系统设计通常包括多个模块，而各个模块的运行周期可能是不同的。因此，如何确定系统运行周期，并进而利用同一个系统运行周期来确定各个模块的初始状态用于形式验证是亟待解决的问题。

因此，需要提供一种获取逻辑系统设计的初始状态的方法和设备。

发明内容

有鉴于此，本说明书一个或多个实施例的目的在于提出一种获取逻辑系统设计的初始状态的方法、电子设备及介质。

本公开的第一个方面，提供了一种用于获取逻辑系统设计的初始状态的方法，所述逻辑系统设计包括多个模块，所述多个模块包括第一模块和第二模块，所述方法包括：获得所述多个模块的运行周期；基于所述多个模块的运行周期，确定所述逻辑系统设计的系统运行周期；基于所述系统运行周期分别生成所述多个模块的复位信号；以及基于所述多个模块的复位信号分别获得所述多个模块的初始状态。

本公开的第二方面，提供了一种电子设备，包括：存储器，用于存储一组指令；以及至少一个处理器，配置为执行该组指令以进行第一方面所述的方法。

本公开的第三方面，提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储电子装置的一组指令，该组指令用于使所述电子装置执行第一方面所述的方法。

本公开实施例提供的获取逻辑系统设计的初始状态的方法、电子设备及介质，方法包括：获取逻辑系统设计的初始状态的方法，其中，所述逻辑系统设计包括多个模块，所述多个模块包括第一模块和第二模块，所述方法包括：获得所述多个模块的运行周期；基于所述多个模块的运行周期，确定所述逻辑系统设计的系统运行周期；基于所述系统运行周期分别生成所述多个模块的复位信号；以及基于所述多个模块的复位信号分别获得所述多个模块的初始状态，可以用于设置模块的相应状态以供验证等，克服现有技术的问题且简单高效。

附图说明