[发明专利]一种干式冷却型低温超导材料的性能测试装置

权利要求书

1.一种干式冷却型低温超导材料的性能测试装置，其特征在于，包括阻尼器(1)、低温冷头(2)、真空筒(4)、波纹管(6)和集成法兰(7)；真空筒(4)内包括一级冷链(3)、辐射阻隔屏(5)，辐射阻隔屏(5)内包括二级冷链(10)和样品台(11)；其中，

所述低温冷头(2)顶部为大气端，所述低温冷头(2)顶部设有一固定法兰，该固定法兰的底端与波纹管(6)上端连接，该固定法兰的顶端与阻尼器(1)连接；该波纹管(6)下端与集成法兰(7)大气端连接；集成法兰(7)与真空筒(4)密封连接，所述低温冷头(2)的底部经该波纹管(6)、集成法兰(7)延伸到真空筒(4)内；

所述低温冷头(2)与辐射阻隔屏(5)通过法兰连接固定且所述低温冷头(2)的底部伸入辐射阻隔屏(5)内与样品台(11)连接；辐射阻隔屏(5)，用于阻挡真空筒(4)与样品台(11)之间的热辐射；

所述一级冷链(3)位于辐射阻隔屏(5)外，所述低温冷头(2)的一级冷端通过一级冷链(3)与辐射阻隔屏(5)连接，用于通过一级冷链(3)将冷量传导给辐射阻隔屏(5)；所述低温冷头(2)的二级冷端通过二级冷链(10)与样品台(11)连接，用于通过二级冷链(10)将冷量传导给样品台(10)。

2.如权利要求1所述的干式冷却型低温超导材料的性能测试装置，其特征在于，所述辐射阻隔屏(5)的内外表面进行剖光并镀金，且外表面缠绕多层铝箔。

3.如权利要求1所述的干式冷却型低温超导材料的性能测试装置，其特征在于，所述一级冷链(3)在40K时导热系数大于1000W/(m·K)，所述二级冷链(10)在4K时导热系数大于400W/(m·K)。

4.如权利要求1或2或3所述的干式冷却型低温超导材料的性能测试装置，其特征在于，所述样品台(11)通过绝热拉杆(8)连接到辐射阻隔屏(5)顶端。

5.如权利要求4所述的干式冷却型低温超导材料的性能测试装置，其特征在于，所述绝热拉杆(8)为空心结构。

6.如权利要求1所述的干式冷却型低温超导材料的性能测试装置，其特征在于，所述样品台(11)包括过渡板(111)、下冷板(115)、上冷板(116)、加热棒(114)；上冷板(116)与下冷板(115)通过铜质叠加薄片(119)连接，上冷板(116)和下冷板(115)上分别设置用于固定样品的跑道型六瓣孔(112)、测量样品温度的温度探头(113)；二级冷链(10)通过过渡板(111)与低温冷头(2)连接，加热棒(114)安装在过渡板(111)的侧孔中。

7.如权利要求6所述的干式冷却型低温超导材料的性能测试装置，其特征在于，上冷板(116)和下冷板(115)之间设有预紧螺栓(117)，用于固定位于上冷板(116)和下冷板(115)之间的样品。

8.如权利要求7所述的干式冷却型低温超导材料的性能测试装置，其特征在于，所述预紧螺栓(117)为铜材。

9.如权利要求1所述的干式冷却型低温超导材料的性能测试装置，其特征在于，所述样品台(11)上设有加热棒，用于调节样品台的温度。