[发明专利]一种功率半导体器件选型方法

权利要求书

1.一种功率半导体器件选型方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤一，在相同测试环境和电压电流温度设置下，对至少一个所述功率半导体器件在不同驱动电阻值下标定对应的开关速度，为标定开关速度值，得到所述功率半导体器件的开关速度和驱动电阻的离散点；

步骤二，基于所述功率半导体器件的离散点，通过拟合或插值法得到开关速度和驱动电阻的相关曲线；

步骤三，基于实际工况的要求获得工作开关速度值，根据开关速度和驱动电阻的相关曲线，获得所述功率半导体在工作开关速度值对应的匹配驱动电阻值；

步骤四，基于配置所述匹配驱动电阻值下的所述功率半导体器件，获得所述功率半导体器件关断和/或开通时的电流变化和电压变化，根据所述功率半导体器件的电流变化和电压变化，判断所述功率半导体器件的性能。

2.根据权利要求1所述的功率半导体器件选型方法，其特征在于：获得功率半导体器件关断时和开通时的电流变化和电压变化的方法为：通过仿真、测试、或者计算的方法，获得电流随时间的变化曲线和电压随时间的变化曲线。

3.根据权利要求2所述的功率半导体器件选型方法，其特征在于：将所有所述功率半导体器件关断时的电流变化曲线和电压变化曲线均绘制在第一坐标系中。

4.根据权利要求2所述的功率半导体器件选型方法，其特征在于：将所有所述功率半导体器件开通时的电流变化和电压变化均绘制在第二坐标系中。

5.根据权利要求1所述的功率半导体器件选型方法，其特征在于：多个所述功率半导体器件在关断时电压变化的电压峰值一致，在相同的电压峰值下判断各功率半导体器件在关断时的性能。

6.根据权利要求1所述的功率半导体器件选型方法，其特征在于：多个所述功率半导体器件在开通时各功率半导体器件的电流变化存在相同的阶段，将各功率半导体器件电流变化相同的阶段作为阶段一，将电流变化不同的阶段作为阶段二，根据各功率半导体器件在阶段二的曲线情况来对比不同的功率半导体器件的损耗差异，同时根据阶段一和阶段二评估不同的功率半导体器件的性能。

7.根据权利要求1-6任一项所述的功率半导体器件选型方法，其特征在于，将所有所述功率半导体器件开关速度与驱动电阻的相关曲线绘制在同一个坐标系中。

8.根据权利要求1-6任一项所述的功率半导体器件选型方法，其特征在于，所述标定开关速度值为电压变化率最大值、电压变化率平均值、电流变化率的最大值、电流变化率的平均值中的任意一个。