[发明专利]多晶硅清洗回收预处理单元、清洗机及清洗方法在审

专利信息
申请号: 202110121379.1 申请日: 2021-01-28
公开(公告)号: CN112893282A 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 潘浩;全铉国 申请(专利权)人: 西安奕斯伟硅片技术有限公司;西安奕斯伟材料技术有限公司
主分类号: B08B3/04 分类号: B08B3/04;B08B3/14;F26B21/00
代理公司: 北京远创理想知识产权代理事务所(普通合伙) 11513 代理人: 郝杰
地址: 710032 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 多晶 清洗 回收 预处理 单元 方法
【权利要求书】:

1.一种多晶硅清洗回收预处理单元,其特征在于,包括上端开口的壳体(11)、进水管(12)、溢流槽(13)、固废收集管(14)、固废收集箱(15)、风淋板(16)和提升机构(17),所述进水管(12)安装在所述壳体(11)下端并且能够将清洗液输送至所述壳体(11)的内腔中,所述壳体(11)内腔中的清洗液能够从壳体(11)中溢出到所述溢流槽(13)内,所述固废收集箱(15)位于所述壳体(11)的下方,在所述壳体(11)的内腔底端开设有废料出口(18),所述固废收集管(14)连通所述废料出口(18)和固废收集箱(15),所述提升机构(17)能够将盛放多晶硅的料篮(7)放入所述壳体(11)的内腔中,并能够将所述料篮(7)向上提升至所述风淋板(16)的下方,所述风淋板(16)具有进气口和多个出气孔,所述出气孔的开口方向向下设置。

2.根据权利要求1所述的多晶硅清洗回收预处理单元,其特征在于,所述壳体(11)的内腔底部设置有沉淀板(19),所述沉淀板(19)的上表面中部高四周低,所述进水管(12)的出水口设置在所述沉淀板(19)的中部,所述废料出口(18)位于所述沉淀板(19)的外缘处。

3.根据权利要求2所述的多晶硅清洗回收预处理单元,其特征在于,所述壳体(11)内还设置有布流板(20),所述布流板(20)上开设有多个通孔,所述布流板(20)位于所述沉淀板(19)的上侧,当所述料篮(7)位于所述壳体(11)内腔中时,所述布流板(20)位于所述料篮(7)的下方。

4.根据权利要求3所述的多晶硅清洗回收预处理单元,其特征在于,所述布流板(20)的上表面中部高四周低。

5.根据权利要求1所述的多晶硅清洗回收预处理单元,其特征在于,所述溢流槽(13)位于所述壳体(11)的外侧并环绕所述壳体(11),所述溢流槽(13)通过溢流管(21)与水箱(22)连通,所述进水管(12)上安装有水泵(23)。

6.根据权利要求5所述的多晶硅清洗回收预处理单元,其特征在于,所述水箱(22)上还设置有补水管(24)。

7.根据权利要求1所述的多晶硅清洗回收预处理单元,其特征在于,所述风淋板(16)的截面形状呈人字形,所述风淋板(16)的进气口位于所述风淋板(16)的顶端,所述风淋板(16)位于所述壳体(11)的正上方。

8.根据权利要求7所述的多晶硅清洗回收预处理单元,其特征在于,所述提升机构(17)包括吊钩,所述风淋板(16)上开设有长条形槽,所述吊钩能够向上移动并穿过所述长条形槽,使得所述风淋板(16)能够罩在所述料篮(7)上。

9.一种多晶硅清洗机,其特征在于,包括酸刻蚀单元(3)、清洗单元、干燥单元(6)和根据权利要求1-8中任意一项所述的所述多晶硅清洗回收预处理单元(1),所述预处理单元(1)能够去除所述料篮(7)中待清洗的多晶硅上的灰分,所述酸刻蚀单元(3)能够对所述料篮(7)中去除灰分的多晶硅进行酸刻蚀,所述清洗单元能够清洗酸刻蚀后的多晶硅,所述干燥单元(6)能够干燥清洗后的多晶硅。

10.一种多晶硅清洗方法,其特征在于,包括以下步骤:

清除待清洗的多晶硅上的灰分;酸刻蚀清除灰分的多晶硅;清洗酸刻蚀后的多晶硅;干燥清洗后的多晶硅;

所述清除待清洗的多晶硅上的灰分,包括通过向上顶水和水浴溢流的方式清洗所述多晶硅,对清洗后的多晶硅进行风淋。

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