[发明专利]一种基于单片机的通用型多功能测试系统

说明书

本发明公开了一种基于单片机的通用型多功能测试系统，包含主控芯片、外部并行总线拓展模块、3线制SPI串行接口测试模块、高级PWM输出两路互补SPWM、呼吸灯测试模块、掉电检测模块、RTC实时时钟模块、串行通信模块和矩阵式键盘模块，外部并行总线拓展模块与主控芯片连接，3线制SPI串行接口测试模块与主控芯片连接，高级PWM输出两路互补SPWM与主控芯片连接用于模拟市电的三相输出，呼吸灯测试模块与主控芯片连接，掉电检测模块与主控芯片连接，RTC实时时钟模块与主控芯片连接，串行通信模块与主控芯片连接，矩阵式键盘模块与主控芯片连接。本发明能够完成对芯片各功能的测试，从而方便剔除芯片的不良品，测试系统功能多样，能够适用于不同类型的芯片的测试。

技术领域

本发明涉及一种测试系统，特别是一种基于单片机的通用型多功能测试系统，属于芯片测试系统领域。

背景技术

芯片是现代智能电路的关键核心部件，目前国内大多数的高端芯片的制造以及检测大多数需要依赖国外进口。随着世界局势的微妙发展，芯片产业的无法自给自足则对国内的集成电路的发展造成了严重的制约。芯片在晶圆封装完成后，需要对芯片进行测试，从而剔除不良品。现有技术中大多数情况下，需要将封装后的芯片送至专业的厂家进行测试，不仅极大地增加了生产成本，而且随着国际关系的形式变化，也对外包形式的测试造成了极大影响。因此针对以上问题，有必要设计一种芯片测试系统。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种基于单片机的通用型多功能测试系统，实现芯片的自主测试。

为解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案是：

一种基于单片机的通用型多功能测试系统，其特征在于：包含主控芯片、外部并行总线拓展模块、3线制SPI串行接口测试模块、高级PWM输出两路互补SPWM、呼吸灯测试模块、掉电检测模块、RTC实时时钟模块、串行通信模块和矩阵式键盘模块，外部并行总线拓展模块与主控芯片连接，3线制SPI串行接口测试模块与主控芯片连接，高级PWM输出两路互补SPWM与主控芯片连接用于模拟市电的三相输出，呼吸灯测试模块与主控芯片连接，掉电检测模块与主控芯片连接， RTC实时时钟模块与主控芯片连接，串行通信模块与主控芯片连接，矩阵式键盘模块与主控芯片连接。

进一步地，所述主控芯片采用STC8H8K64S4U芯片U1，芯片U1的17脚连接电容C37一端，电容C37另一端接地。

进一步地，所述外部并行总线拓展模块包含74HC573芯片U10和IS62C256AL芯片U9，芯片U10的1脚接地，芯片U10的2脚连接芯片U1的59脚和芯片U9的11脚，芯片U10的3脚连接芯片U1的60脚和芯片U9的12脚，芯片U10的4脚连接芯片U1的61脚和芯片U9的13脚，芯片U10的5脚连接芯片U1的62脚和芯片U9的15脚，芯片U10的6脚连接芯片U1的63脚和芯片U9的16脚，芯片U10的7脚连接芯片U1的2脚和芯片U9的17脚，芯片U10的8脚连接芯片U1的3脚和芯片U9的18脚，芯片U10的9脚连接芯片U1的4脚和芯片U9的19脚，芯片U10的10脚接地，芯片U10的12脚连接芯片U9的3脚，芯片U10的13脚连接芯片U9的4脚，芯片U10的14脚连接芯片U9的5脚，芯片U10的15脚连接芯片U9的6脚，芯片U10的16脚连接芯片U9的7脚，芯片U10的17脚连接芯片U9的8脚，芯片U10的18脚连接芯片U9的9脚，芯片U10的19脚连接芯片U9的10脚，芯片U10的20脚连接电源VCC和电容C27一端，电容C27另一端接地，芯片U9的1脚连接芯片U1的51脚，芯片U9的2脚连接芯片U1的49脚，芯片U9的14脚接地，芯片U9的20脚连接芯片U1的41脚，芯片U9的21脚连接U1的47脚，芯片U9的22脚连接U1的44脚，芯片U9的23脚连接U1的48脚，芯片U9的24脚连接U1的46脚，芯片U9的25脚连接U1的45脚，芯片U9的26脚连接U1的50脚，芯片U9的27脚连接U1的42脚，芯片U9的28脚连接电源VCC、电容C25 一端和电容C28一端，电容C25另一端和电容C28另一端接地。