[发明专利]一种针对二极管的快速检测及自动分拣装置

说明书

本发明涉及电子元器件与机电组件设备制造技术领域，且公开了一种针对二极管的快速检测及自动分拣装置，包括旋转盘，所述旋转盘的正上方设置有进料口，所述旋转盘的左下角设置有不良品出口，所述旋转盘的右下角设置有良品出口，所述旋转盘的中间上端设置有检测框结构，所述检测结构的下端活动连接有一级电路控制结构，所述检测结构的上端活动连接有二级电路控制结构，所述旋转盘的左侧设置有间歇拨动杆。该装置，通过进料口进行上料，检测时通过二极管自重和性能打开一级电路控制结构和二级电路控制结构，在间歇波动杆的带动下间歇转动，从而实现了高效检测性能、针对检测结果自动分类收拣二极管的有益效果。

技术领域

本发明涉及电子元器件与机电组件设备制造技术领域，具体为一种针对二极管的快速检测及自动分拣装置。

背景技术

电子元器件是电子元件和电小型的机器、仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，可以在同类产品中通用，常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件，如电容、晶体管、游丝、发条等子器件的总称，二极管是用半导体材料制成的一种电子器件，是世界上第一种半导体器件，具有单向导电性能、整流功能。

在二极管的生产加工过程中，在成品制成后，需要对二极管进行性能检测，检测其是否满足使用，现有技术中，一般通过欧姆表测量二极管的正反向，即将通有代表进电端和出电端的两个探测针分别接触在二极管的两个引脚上，进行检测，此种方法效率低、不能满足实际生产需求，此外，针对检测过的二极管也缺少分类收集整理的功能。

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种针对二极管的快速检测及自动分拣装置，具备高效检测性能、针对检测结果自动分类收拣二极管的优点，解决了原装置检测效率低、不能满足生产需求、缺少自动分类收拣功能的问题。

(二)技术方案

为实现上高效检测性能、针对检测结果自动分类收拣二极管的目的，本发明提供如下技术方案：一种针对二极管的快速检测及自动分拣装置，包括旋转盘，所述旋转盘的正上方设置有进料口，所述旋转盘的左下角设置有不良品出口，所述旋转盘的右下角设置有良品出口，所述旋转盘的右上角开设置有拨动槽口，所述旋转盘的中间上端设置有检测框，所述检测框的下端中间卡接有活动杆，所述活动杆的下端固定连接有导电触头，所述活动杆的上端固定连接有连接块，所述连接块的右端活动连接有第一推杆，所述第一推杆远离连接块的一端活动连接有第二推杆，所述第二推杆的右端活动连接有磁铁，所述磁铁的右端设置有电磁线圈，所述连接块的上方固定连接有弧形橡胶块，所述弧形橡胶块的右侧固定连接有固定框，所述固定框的下端中间活动连接有检测杆，所述检测杆的中间活动连接有固定杆，所述固定杆的右端活动连接有复位弹簧，所述固定框的上端最右侧固定连接有检测触头，所述检测触头的右端固定连接有导线，所述旋转盘的正中间设置有固定盘，所述固定盘的最外圈左半侧固定连接有导电半环，所述固定盘的最外侧右半侧固定连接有绝缘半环,所述固定盘的外侧设置有支撑环，所述旋转盘的左侧设置有自转转盘，所述自转转盘的上端固定连接有间歇拨动杆。

优选的，所述进料口、不良品出口、良品出口在旋转盘的圆周外侧均等分布，三者分别对应三个检测结构的出口。

优选的，所述拨动槽口的孔经大小及深度与间歇拨动杆的大小相适配，可通过间歇拨动杆带动拨动槽口运动，实现间歇度旋转功能。

优选的，所述固定框的下端内部开设有斜卡槽，所述斜卡槽中间活动连接有检测杆，可通过所述斜卡槽实现检测杆的转动运动。

优选的，所述复位弹簧远离检测杆的一端固定连接有固定框，所述复位弹簧通过固定框为检测杆提供复位拉力。

优选的，所述固定盘的中间固定连接有固定螺丝，所述固定螺丝将固定盘固定，使其不旋转运动。

(三)有益效果

与现有技术相比，本发明提供了一种针对二极管的快速检测及自动分拣装置，具备以下有益效果：