[发明专利]一种高通量自动对焦分析装置、系统及方法

权利要求书

1.一种高通量自动对焦分析装置，其特征在于，包括：

载物机构(1)，用于承载样品载板(100)，所述样品载板(100)上设置有至少两个承载位，所述承载位用于承载样品，所述载物机构(1)还用于带动所述样品载板(100)沿至少一个方向平移，使得所述样品载板(100)上的承载位依次位于观测位；

显微成像机构(2)，被配置为依次获取位于观测位的所述承载位中的样品的显微成像；

自动对焦机构(3)，与所述显微成像机构(2)驱动连接，所述自动对焦机构(3)被配置为在获取所述显微成像前基于三角激光测距法调整所述显微成像机构(2)的物镜(21)与观测位的样品的物距C，以使物象清晰；

光源机构，被配置为向所述观测位的样品提供光源。

2.如权利要求1所述的高通量自动对焦分析装置，其特征在于，所述自动对焦机构(3)包括：

激光反射镜(31)，其固定于所述物镜(21)与观测位的样品之间；

三角激光测距仪(32)，被配置为向所述激光反射镜(31)的反射表面发射入射角为δ的入射光线α，且所述入射光线α经反射产生第一反射光线β，所述第一反射光线β照射于所述样品的表面后产生返回光线γ，所述返回光线γ通过所述反射表面反射产生第二反射光线θ，且还被配置为接收第二反射光线θ，并生成激光图像，以及基于所述激光图像根据几何三角定理计算获得测量距离A；

对焦位移组件(33)，所述物镜(21)设置于所述对焦位移组件(33)的输出端，所述对焦位移组件(33)被配置为调整所述物距C，使所述物距C等于目标物距C₀；

其中，以所述入射光线α的发射点和所述第二反射光线θ的接收点的连线L为底边，以所述入射光线α与所述第二反射光线θ延长线的相交角为顶角所构成的三角形的所述底边的高与所述测量距离A相等。

3.如权利要求2所述的高通量自动对焦分析装置，其特征在于，所述对焦位移组件(33)还被配置为将参考承载位上的样品的物距C调整为所述物距C₀后，基于参考承载位对应的测量距离A和其余承载位对应的测量距离A调整其余承载位上样品的物距C为目标物距C₀。

4.如权利要求2所述的高通量自动对焦分析装置，其特征在于，所述激光反射镜(31)为半透半反镜，所述第一反射光线β和所述返回光线γ相对于样品的法线与所述物镜(21)的轴线同轴。

5.如权利要求2所述的高通量自动对焦分析装置，其特征在于，所述光源机构包括：

荧光组件(4)，包括荧光光源(41)和至少两个滤光立方体(42)，所述荧光光源(41)能够可选择地通过任一所述滤光立方体(42)向观测位的样品提供目标荧光激发光。

6.如权利要求5所述的高通量自动对焦分析装置，其特征在于，所述对焦位移组件(33)还被配置为基于所述目标荧光激发光和/或所述滤光立方体(42)对所述物距C进行偏差修正。

7.如权利要求5所述的高通量自动对焦分析装置，其特征在于，所述光源机构还包括：

滤光自动切换组件(5)，与所述至少两个滤光立方体(42)驱动连接，所述滤光自动切换组件(5)被配置为使得所述至少两个滤光立方体(42)中的一个配合所述荧光光源(41)向观测位的样品提供目标荧光激发光。

8.如权利要求7所述的高通量自动对焦分析装置，其特征在于，所述滤光自动切换组件(5)包括：

滤光载板(51)，其上设置有至少两个滤光立方体固定位，各所述滤光立方体(42)一对一的固定于各所述滤光立方体固定位上；

载板位移组件(52)，所述滤光载板(51)设置于所述载板位移组件(52)的输出端，所述载板位移组件(52)被配置为驱动所述滤光载板(51)移动，以使所述至少两个滤光立方体(42)中的一个移动至对接位，并配合所述荧光光源(41)向观测位的样品提供目标荧光激发光。