[发明专利]一种基于薄膜干涉原理的新型土木工程结构变形监测装置

说明书

本发明公开了一种基于薄膜干涉原理的新型土木工程结构变形监测装置，包括土木工程主体、第一薄膜、第二薄膜、第一固定框架和可转动连接杆，所述土木工程主体的上端设有支撑架，所述支撑架的内侧连接有第一固定框架，所述第一固定框架的上部连接有第二固定框架，所述第一固定框架和第二固定框架的右侧连接有可转动连接杆，所述可转动连接杆的上部通过紧定螺栓与第二固定框架相连接，所述支撑架的上部设有平行单色光源，所述第二固定框架的内部设有第一薄膜和第二薄膜，本发明通过第一薄膜和第二薄膜设计实验来检测土木工程结构表面的平整度，通过薄膜干涉原理可以同时对结构表面进行检测，并且可以提高平面检测的准确度。

技术领域

本发明涉及土木工程结构检测技术领域，具体是一种基于薄膜干涉原理的新型土木工程结构变形监测装置。

背景技术

土木工程结构检测不仅关系到建筑物是否符合使用等级以及表面是否出现变形，更是关系到土木工程质量以及人民群众的财产安全，现代土木工程主体结构主要是混凝土结构，并且混凝土结构质量以及强度和稳定性，都对整个工程建筑的质量与安全性造成直接影响，要想全面提高土木工程质量，就要求其必须进行全面主体结构检测工作，薄膜干涉原理是由于光照射到薄膜时，从薄膜的前后表面或上下表面分别反射出两列波发生干涉，由于反射光波相同，叠加后相互加强，产生明纹，从而达到检测表面是否平整的目的，传统的变形监测装置检测效率比较低，并且不能保证检测变形的准确性，从而降低了对变形监测装置的使用率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于薄膜干涉原理的新型土木工程结构变形监测装置，以解决传统变形监测装置检测效率比较低，并且不能保证检测变形的准确性，从而降低了对变形监测装置的使用率的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种基于薄膜干涉原理的新型土木工程结构变形监测装置，包括土木工程主体、第一薄膜、第二薄膜、支撑架、第一固定框架和可转动连接杆，所述土木工程主体的上端设有支撑架，所述支撑架的内侧连接有第一固定框架，所述第一固定框架的上部连接有第二固定框架，且第一固定框架和第二固定框架的左侧连接有端部连接轴，所述第一固定框架和第二固定框架的右侧连接有可转动连接杆，所述可转动连接杆的上部通过紧定螺栓与第二固定框架相连接，所述支撑架的上部设有平行单色光源，所述第二固定框架的内部设有第一薄膜和第二薄膜，所述第一薄膜和第二薄膜的中部均设有第一反射光和第二反射光。

优选的，所述可转动连接杆的下部通过连接轴与第一固定框架相连接，所述可转动连接杆的中部设有螺栓滑动槽，可以使可转动连接杆能够沿着第一固定框架进行转动。

优选的，所述支撑架通过紧定螺钉与第一固定框架相连接，且第一固定框架的长度小于支撑架的长度，将第一固定框架安装固定在支撑架内侧。

优选的，所述第一薄膜和第二薄膜的中部设有连接杆，所述第一薄膜和第二薄膜的厚度小于第二固定框架，可以提高第一薄膜和第二薄膜的稳定性，也能增大第一薄膜和第二薄膜使用面积。

优选的，所述平行单色光源均设有2个，且平行单色光源通过螺钉与支撑架相连接，可以将平行单色光源分别固定在第一薄膜和第二薄膜的上部。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明利用薄膜干涉原理使两束相干光存在光程差，从而会出现干涉现象，并且通过第一薄膜和第二薄膜设计实验来检测土木工程结构表面的平整度，通过薄膜干涉原理可以同时对结构表面进行检测，并且可以提高平面检测的准确度，通过第一固定框架和第二固定框架可以便于对土木结构的表面进行检测，同时提高了检测的效率。

附图说明

图1为本发明主视结构示意图。

图2为本发明俯视结构示意图。

图中：1-土木工程主体、2-第一固定框架、3-第二固定框架、4-可转动连接杆、5-支撑架、6-平行单色光源、7-端部连接轴、8-紧定螺栓、9-第一反射光、10-第二反射光、11-第一薄膜、12-第二薄膜。