[发明专利]误码率测量装置及错误计数方法在审
申请号: | 202110135736.X | 申请日: | 2021-02-01 |
公开(公告)号: | CN113452476A | 公开(公告)日: | 2021-09-28 |
发明(设计)人: | 大沼弘季 | 申请(专利权)人: | 安立股份有限公司 |
主分类号: | H04L1/00 | 分类号: | H04L1/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 李芳华 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 误码率 测量 装置 错误 计数 方法 | ||
1.一种误码率测量装置,将已知模式的PAM4信号作为测试信号输入于被测物(W),接收伴随所述测试信号的输入的来自所述被测物的信号,根据从所述被测物接收的信号与所述测试信号的比较结果,测量是否能够进行所述被测物的FEC动作,并具备:操作部(4),设定相对于从所述被测物接收的信号的设定参数;及存储部(5),存储将从所述被测物接收的信号进行转换的符号串数据,所述误码率测量装置(1)的特征在于,
所述操作部根据所述被测物的通信标准,设定所述FEC的1个Codeword长度、1个FECSymbol长度,
所述误码率测量装置(1)具备:
数据分段机构(3da),将存储于所述存储部的符号串数据分段为最高有效位串数据和最低有效位串数据;
数据比较部(3d),将通过所述数据分段机构进行所述分段的最高有效位串数据和最低有效位串数据分别与错误数据进行比较而分别检测通过所述操作部设定的所述每1个Codeword长度的最高有效位错误和最低有效位错误,并且以通过所述操作部设定的所述1个FEC Symbol长度的间隔检测所述最高有效位串数据和最低有效位串数据各自的FECSymbol Error;及
错误计数机构(7a),对通过所述数据比较部检测到的最高有效位错误数量和最低有效位错误数量进行计数,并且对所述FEC Symbol Error数量进行计数。
2.根据权利要求1所述的误码率测量装置,其特征在于,具备:
显示部(6),根据所述计数的结果,显示最高有效位错误数量、最低有效位错误数量及FEC Symbol Error数量中的至少任一个计数值。
3.一种误码率测量装置的错误计数方法,将已知模式的PAM4信号作为测试信号输入于被测物(W),接收伴随所述测试信号的输入的来自所述被测物的信号,根据从所述被测物接收的信号与所述测试信号的比较结果,测量是否能够进行所述被测物的FEC动作,设定相对于从所述被测物接收的信号的设定参数,存储将从所述被测物接收的信号进行转换的符号串数据,所述误码率测量装置(1)的错误计数方法的特征在于,包括:
根据所述被测物的通信标准,设定所述FEC的1个Codeword长度、1个FEC Symbol长度的步骤;
将所述存储的符号串数据分段为最高有效位串数据和最低有效位串数据的步骤;
将所述分段的最高有效位串数据和最低有效位串数据分别与错误数据进行比较而分别检测所述设定的所述每1个Codeword长度的最高有效位错误和最低有效位错误,并且以所述设定的所述1个FEC Symbol长度的间隔检测所述最高有效位串数据和最低有效位串数据各自的FEC Symbol Error的步骤;及
对所述检测到的最高有效位错误数量和最低有效位错误数量进行计数,并且对所述FEC Symbol Error数量进行计数的步骤。
4.根据权利要求3所述的误码率测量装置的错误计数方法,其特征在于,包括:
根据所述计数的结果,显示最高有效位错误数量、最低有效位错误数量及FEC SymbolError数量中的至少任一个计数值的步骤。
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