[发明专利]存储器装置在审

专利信息
申请号: 202110140753.2 申请日: 2021-02-02
公开(公告)号: CN114765180A 公开(公告)日: 2022-07-19
发明(设计)人: 陈威臣;吕函庭 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L27/11524 分类号: H01L27/11524;H01L27/1157;H01L27/11578;H01L27/11551
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张琛
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 存储器 装置
【说明书】:

发明公开了一种存储器装置,该存储器装置包括一源极元件、一漏极元件、多个通道层、多个控制电极层与一存储层。通道层独立电性连接在源极元件与漏极元件之间。多个存储单元定义在控制电极层与通道层之间的存储层中。

技术领域

本发明属于存储技术领域,涉及一种存储器装置。

背景技术

近年来,半导体装置的尺寸已逐渐缩小。在半导体技术中,特征尺寸的缩小、速度、性能、密度与每单位集成电路的成本的改进皆为相当重要的目标。

发明内容

本发明有关于一种存储器装置,可具有优良的操作效能。

根据本发明的一方面,提出一种存储器装置,其包括一源极元件、一漏极元件、多个通道层、多个控制电极层与一存储层。通道层独立电性连接在源极元件与漏极元件之间。多个存储单元定义在控制电极层与通道层之间的存储层中。

根据本发明的另一方面,提出一种存储器装置,其包括一通道元件、多个控制电极层与一存储层。通道元件包括电性连接的多个较厚通道部与多个较薄通道部。多个存储单元定义在较厚通道部与控制电极层之间的存储层中。

根据本发明的又一方面,提出一种存储器装置,其包括多个控制电极层、多个通道层与一存储层。通道层在一第一方向上与控制电极层交错配置并重叠。多个存储单元定义在控制电极层与通道层之间的存储层中。

为了对本发明的上述及其他方面有更佳的了解,下文特举实施例,并配合所附附图详细说明如下:

附图说明

图1A绘示一实施例的存储器装置的剖面图。

图1B绘示一实施例的存储器装置的立体图。

图1C绘示一实施例的存储器装置的剖面图。

图1D绘示实施例的存储器装置的源极元件、漏极元件与通道层。

图2A绘示一实施例的存储器装置的剖面图。

图2B绘示一实施例的存储器装置的立体图。

图2C绘示一实施例的存储器装置的剖面图。

图2D绘示实施例的存储器装置的源极元件、漏极元件与通道元件。

图3A至图9C绘示一实施例中的存储器装置的制造方法。

图10A至图13绘示另一实施例中的存储器装置的制造方法。

图14绘示比较例的存储器装置。

【符号说明】

100:控制电极层

110:干部电极

111:第一电极表面

120:第一支部电极

122:第二电极表面

124:第四电极表面

130:第二支部电极

133:第三电极表面

135:第五电极表面

200:绝缘层

300:基底

400:通道层

401:第一通道表面

402:第二通道表面

403:第三通道表面

404:通道表面

460:通道元件

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