[发明专利]一种PVK-TMDCs范德华异质结及其制备方法有效
申请号: | 202110140994.7 | 申请日: | 2021-02-02 |
公开(公告)号: | CN112909126B | 公开(公告)日: | 2022-10-25 |
发明(设计)人: | 黄寒;邵子依;郭晓;肖君婷;游思雯 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/032;H01L31/0352;H01L51/48;H01L51/42;H01L51/46 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 赵晓琳 |
地址: | 410083 *** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 pvk tmdcs 范德华异质结 及其 制备 方法 | ||
1.一种PVK-TMDCs范德华异质结的制备方法,包括以下步骤:
(1)采用化学气相沉积法在基底上制备过渡金属硫族化合物薄膜;
(2)采用物理气相沉积法在所述步骤(1)得到的过渡金属硫族化合物薄膜表面制备钙钛矿薄膜,得到PVK-TMDCs范德华异质结;
所述步骤(1)中基底包括Si层和SiO2层,所述Si层为P型重掺杂的Si层,所述SiO2层的厚度为100~500nm;
所述步骤(1)中过渡金属硫族化合物薄膜的材质为WS2;
所述过渡金属硫族化合物薄膜的制备方法包括以下步骤:
在惰性气体氛围中,将过渡金属氧化物加热至700~800℃,将硫族元素单质加热至200~300℃,进行沉积,得到过渡金属硫族化合物薄膜;
所述过渡金属氧化物和硫族元素单质的质量比为1:(25~30);
所述过渡金属氧化物的加热方式为先升温至300℃,保温10~20min,然后升温至700~800℃,保温10~20min,所述升温的速率为10~20℃/min;
所述硫族元素单质的加热方式为:当过渡金属氧化物的温度达到600~650℃时,以20~30℃/min的速率升温至200~300℃,所述过渡金属氧化物和硫族元素单质同时达到各自的目标温度;
所述过渡金属氧化物为WO3;
所述惰性气体氛围为氮气、氩气或氦气,所述惰性气体的流速为20~50cm3/min;
所述步骤(2)中钙钛矿薄膜的材质为MAPbX3或CsPbX3,所述MAPbX3和CsPbX3中的X独立地为I、Br或Cl。
2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)在真空环境下进行,所述真空环境的真空度为10-7~10-8mbar。
3.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)中物理气相沉积法为顺序蒸发法或共蒸法。
4.权利要求1~3任意一项所述制备方法制备的PVK-TMDCs范德华异质结。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的