[发明专利]检测方法、存储介质和电子装置

说明书

一种检测方法、存储介质和电子装置。该检测方法包括：获取第一成像装置拍摄第一教室得到的待检测图像；获取基准图像；获取待检测图像的特征点集以及基准图像的特征点集，待检测图像的特征点集包括至少一个第一特征点，基准图像的特征点集包括至少一个第二特征点；获取第一特征点对集；获取第二特征点对集；根据是否基于第一特征点对集和第二特征点对集获取至少一个交叉匹配特征点对，确定第一教室的教学信息展示区的至少部分是否位于第一成像装置的成像区域之外。至少一个交叉匹配特征点对包括满足交叉匹配条件的第一特征点对和第二特征点对。该检测方法可以自动检测教学信息展示区的至少部分是否位于成像区域之外。

技术领域

本公开的实施例涉及一种检测方法、存储介质和电子装置。

背景技术

在线下教学中，存在学生缺勤或者注意力不集中等情况下，这导致学生可能后续不能很好的理解下次课程的内容。

发明内容

本公开的至少一个实施例提供了一种检测方法，其用于分别设置在多个教室的多个成像装置，且包括：获取第一成像装置拍摄第一教室得到的待检测图像，其中，所述第一教室为所述多个教室之一，所述第一成像装置为所述多个成像装置之一且设置在所述第一教室内；获取所述基准图像；获取所述待检测图像的特征点集以及所述基准图像的特征点集，其中，所述待检测图像的特征点集包括至少一个第一特征点，所述基准图像的特征点集包括至少一个第二特征点；针对所述待检测图像的特征点集中的每个第一特征点，将所述基准图像的特征点集中的与所述每个第一特征点距离最近的第二特征点作为与所述每个第一特征点对应的第一匹配特征点，以获取第一特征点对集，其中，所述第一特征点对集包括由所述每个第一特征点以及与所述每个第一特征点对应的第一匹配特征点形成的第一特征点对；针对所述基准图像的特征点集中的每个第二特征点，将所述待检测图像的特征点集中的与所述每个第二特征点距离最近的第一特征点作为与所述每个第二特征点对应的第二匹配特征点，以获取第二特征点对集，其中，所述第二特征点对集包括由所述每个第二特征点以及与所述每个第二特征点对应的第二匹配特征点形成的第二特征点对；以及根据是否基于所述第一特征点对集和所述第二特征点对集获取至少一个交叉匹配特征点对，确定所述第一教室的教学信息展示区的至少部分是否位于所述第一成像装置的成像区域之外，其中，所述至少一个交叉匹配特征点对包括满足交叉匹配条件的第一特征点对和第二特征点对。

本公开的至少一个实施例提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被处理器运行时使得计算机执行本公开的至少一个实施例提供的任一检测方法。

本公开的至少一个实施例提供了一种电子装置，其包括：处理器和存储器。所述存储器中存储有适于所述处理器执行的计算机程序指令，所述计算机程序指令被所述处理器运行时使得所述处理器执行本公开的至少一个实施例提供的任一检测方法。

附图说明

为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本公开的一些实施例，而非对本公开的限制。

图1是本公开的至少一个实施例提供的检测方法的示例性流程图；

图2A和图2B是本公开的至少一个实施例提供的第一教室的基准图像的第一个和第二个示意图；

图3A和图3B分别示出了图2A和图2B所示的第一教室的基准图像的标注区域；

图4A和图4B是本公开的至少一个实施例提供的示出了第一教室的教学信息展示区的可见光图像的第一个和第二个示意图；

图5A和图5B是本公开的至少一个实施例提供的示出了第一教室的教学信息展示区的红外图像的第一个和第二个示意图；

图6是图4A和图4B所示的可见光图像的竖直边缘图的示意图；

图7是图5A和图5B所示的红外图像的竖直边缘图的示意图；