[发明专利]基于背景光的E-TPU鞋中底缺陷检测方法及系统

权利要求书

1.一种基于背景光的E-TPU鞋中底缺陷检测方法，其特征在于，所述E-TPU鞋中底缺陷检测方法包括以下步骤：

搭建背景光源；

基于所述背景光源采集被检测E-TPU鞋中底的图像；

基于所述被检测E-TPU鞋中底的图像对被检测E-TPU鞋中底位置进行配准及旋转，获得配准后鞋中底图像；

对所述配准后鞋中底图像进行超像素分割，获得多个超像素；

根据所述超像素对所述被检测E-TPU鞋中底进行缺陷检测，获得缺陷检测结果。

2.如权利要求1所述的E-TPU鞋中底缺陷检测方法，其特征在于，所述背景光源包括：由多条条形光源组合形成的面光源，用于进行光强调节的数字控制器。

3.如权利要求1所述的E-TPU鞋中底缺陷检测方法，其特征在于，在所述搭建背景光源的步骤之后，还包括：对所述背景光源进行调试。

4.如权利要求3所述的E-TPU鞋中底缺陷检测方法，其特征在于，所述对背景光源进行调试的步骤包括：

(a)在所述背景光源下，采集合格制品图像，计算得到所述合格制品图像中E-TPU颗粒缝隙的第一灰度值：

(b)根据所述第一灰度值调整所述背景光源的强度；

(c)再次采集所述合格制品图像，并再次计算得到所合格制品图像中E-TPU颗粒缝隙的第二灰度值；

(d)计算所述第一灰度值与所述第二灰度值的差值，并判断所述差值是否小于第一预设值，若小于第一预设值，执行步骤(d)，否则，返回(b)；

(e)所述背景光源调试结束。

5.如权利要求4所述的E-TPU鞋中底缺陷检测方法，其特征在于，在所述对背景光源进行调试的步骤之后，还包括：

通过改进的大津法分割所述合格制品图像，得到分离背景的合格制品图像

计算所述分离背景的合格制品图像的质心点和最小外接矩形，作为配准的基准信息；

相应地，所述基于所述被检测E-TPU鞋中底的图像对被检测E-TPU鞋中底位置进行配准及旋转，获得配准后鞋中底图像的步骤包括：

基于所述被检测E-TPU鞋中底的图像和所述基准信息对被检测鞋中底位置进行配准及旋转，获得配准后鞋中底图像。

6.如权利要求5所述的E-TPU鞋中底缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述被检测E-TPU鞋中底的图像和所述基准信息对被检测鞋中底位置进行配准及旋转，获得配准后鞋中底图像的步骤包括：

采用改进的大津法检测分割所述被检测鞋中底图像，得到分离背景的被检测鞋中底图像，并提取所述被检测鞋中底图像的边缘；

计算所述边缘的曲率，将曲率超过阈值的被检测鞋中底剔除；

计算所述被检测鞋中底的质心坐标和最小外接矩形；

根据所述被检测鞋中底的质心坐标和最小外接矩形进行配准，将所述被检测鞋中底调整到与所述基准信息相同的角度，获得配准后鞋中底面图像。

7.如权利要求1所述的E-TPU鞋中底缺陷检测方法，其特征在于，所述对配准后鞋中底图像进行超像素分割采用的是SLIC超像素分割算法。

8.如权利要求1所述的E-TPU鞋中底缺陷检测方法，其特征在于，所述根据超像素对所述被检测E-TPU鞋中底进行缺陷检测，获得缺陷检测结果的步骤包括：

通过全局均值的方法计算得到所述超像素的全局灰度均值；

计算得到所述超像素的面积；

根据所述全局灰度均值和所述面积对所述被检测E-TPU鞋中底进行缺陷检测，获得缺陷检测结果。