[发明专利]一种CT探测器Gap_Size校准板及其校准方法、校准总成

权利要求书

1.一种CT探测器Gap_Size校准板，所述CT探测器包括沿X向排布的多列探测器模块，每列探测器模块包括沿Z向排布的数片闪烁晶体片，其特征在于，所述校准板包括板体，板体具有沿其长度方向分布的阵列式罅隙，每一罅隙至CT探测器的投影区域至少覆盖两列探测器模块；罅隙的第一侧为沿Z向延伸的斜面结构，以使罅隙至对应的一列探测器模块的投影从完全覆盖至完全不覆盖相应的闪烁晶体片；

所述CT探测器Gap_Size校准板对应的CT探测器Gap_Size校准方法，包括以下步骤：

(1)将校准板安装于CT探测器与辐射源之间，采集CT探测器中同一列探测器模块的各闪烁晶体片的X射线吸收量I_i，i依次取值为1，2，…，n，n为同一列探测器模块中的闪烁晶体片的数量；根据罅隙的斜面结构对应的一次线性函数z＝f(x)，得到各闪烁晶体片的未被覆盖区域的理论面积S_i；根据各闪烁晶体片的X射线吸收量I_i与理论面积S_i拟合得到闪烁晶体片的X射线吸收量与其面积的关系I＝F(S)；根据各闪烁晶体片的未被覆盖区域的面积计算公式，得到S＝s(x)；根据z＝f(x)、I＝F(S)及S＝s(x)确定目标闪烁晶体片的理论X向中心位置和理论Z向中心位置；

(2)若闪烁晶体片偏移于校准板，采集CT探测器实际位置下同一列探测器模块的各闪烁晶体片的X射线吸收量I′_i，根据I'＝F(S')得到各闪烁晶体片的未被覆盖区域的实际面积S′_i；根据各闪烁晶体片的未被覆盖区域的面积计算公式，得到S'＝s'(x)；根据各闪烁晶体片的Z向位置与X向位置一一对应，得到z＝f'(x)，基于目标闪烁晶体片的理论Z向中心位置得到目标闪烁晶体片的实际X向中心位置；

(3)计算目标闪烁晶体片的实际X向中心位置与理论X向中心位置的距离得到X向位置偏差Δx，CT探测器的理论Gap_Size与X向位置偏差Δx之和为CT探测器的实际Gap_Size；利用实际Gap_Size进行校准。

2.根据权利要求1所述的一种CT探测器Gap_Size校准板，其特征在于，所述每一罅隙至CT探测器的投影区域覆盖三列探测器模块。

3.根据权利要求1所述的一种CT探测器Gap_Size校准板，其特征在于，所述罅隙的第二侧为沿Z向延伸的平面结构，第二侧与第一侧相对。

4.根据权利要求1所述的一种CT探测器Gap_Size校准板，其特征在于，所述校准板还包括安装支架，板体通过安装支架安装于CT探测器。

5.根据权利要求4所述的一种CT探测器Gap_Size校准板，其特征在于，所述板体具有安装孔，通过紧固件安装于安装孔，以将板体固定于安装支架。

6.根据权利要求5所述的一种CT探测器Gap_Size校准板，其特征在于，所述板体沿其长度方向的两端分别具有凸耳，各凸耳具有至少一个安装孔。

7.根据权利要求1所述的一种CT探测器Gap_Size校准板，其特征在于，所述步骤(1)中，根据各闪烁晶体片的X射线吸收量I_i与理论面积S_i拟合得到I＝F(S)，包括：

在未安装校准板的条件下，获取各闪烁晶体片完全不被覆盖的面积为S₀以及X射线吸收量为I″_i；

根据拟合得到I＝F(S)；其中，δ为校正系数。

8.根据权利要求1所述的一种CT探测器Gap_Size校准板，其特征在于，所述目标闪烁晶体片为同一列探测器模块的中心闪烁晶体片。

9.一种CT探测器Gap_Size校准总成，其特征在于，包括数块如权利要求1-6任一项所述的校准板并列排布或成角度排布。