[发明专利]一种用于光模块的光回波容限测试装置

说明书

本发明公开了一种用于光模块的光回波容限测试装置，包括：反射仪模块，其包括入射口和出射口；分光器，其与所述出射口连接，用于将待测光源分为检测光和反射光；衰减器，其一端接收所述反射光，其另一端与所述入射口连接；其中，所述反射仪模块还包括偏振组件、法拉第旋光镜和透光平板；所述偏振组件包括偏振分束器和棱镜；所述偏振分束器设置于所述入射口和出射口；所述入射口分为第一入射口和第二入射口，所述第一入射口连接待测光，所述第二入射口连接反射光。本发明实现了测量不同大小的反射光返回该通道后，光发射信号眼图指标的实时动态变化，建立了二者的数据关系曲线；同时避免了反射光对出射光的影响。

技术领域

本发明涉及数据通信技术领域，具体涉及一种用于光模块的光回波容限测试装置。

背景技术

随着光模块速率的提升，发现当高速光模块光链路异常时（如连接器脏污），反射光会劣化光信号的质量。在实际应用中也发现，光连接器脏污导致系统产生误码的问题。验证反射光对其激光器本身性能的劣化程度，比如不同反射光功率对光 眼图等指标的影响变得非常有必要。传统的光回波容限测试方法，只能测试整机指标（误码率）。

现有技术201320159983.4公开了一种双模式的光时域反射仪。其结构上包括有光源、光耦合器或光环形器、主探测器，光源连接光耦合器或光环形器，该光源发出波长为λ₁的光信号，光耦合器或光环形器通过传输光纤连接待测光纤，主探测器通过传输光纤连接光耦合器或光环形器，还新设有一个发射波长为λ₂的新增光源，该新增光源将波长为λ₂的光信号利用传输光纤传输至待测光纤，波长λ₁的光信号位于新增光源的波长λ₂的光信号的拉曼放大波段内，该新增光源具有连续模式和脉冲模式两种工作模式。

综上，现需要设计一种用于光模块的光回波容限测试装置来解决现有技术中测量光回波容限时无法控制反射干扰的问题。

发明内容

为解决上述现有技术中问题，本发明提供了一种用于光模块的光回波容限测试装置，能够动态监测光模块在不同强度反射光下的过程指标。

为达到上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种用于光模块的光回波容限测试装置，包括：

反射仪模块，其包括入射口和出射口；

分光器，其与所述出射口连接，用于将待测光源分为检测光和反射光；

衰减器，其一端接收所述反射光，其另一端与所述入射口连接；

其中，所述反射仪模块还包括偏振组件、法拉第旋光镜和透光平板；

所述偏振组件包括偏振分束器和棱镜；所述偏振分束器设置于所述入射口和出射口；

所述入射口分为第一入射口和第二入射口，所述第一入射口连接待测光，所述第二入射口连接反射光。

在本发明的一些实施例中，所述偏振组件分为第一偏振组件和第二偏振组件；所述第一偏振组件包括第一偏振分束器和第一棱镜；所述第二偏振组件包括第二偏振分束器和第二棱镜。

在本发明的一些实施例中，所述法拉第旋光镜和所述透光平板设置于所述第一偏振组件和所述第二偏振组件之间。

在本发明的一些实施例中，所述第一偏振分束器与所述第一入射口连接；所述第二偏振分束器与所述出射口连接。

在本发明的一些实施例中，所述第一偏振组件与所述第二偏振组件中心对称设置。

在本发明的一些实施例中，所述法拉第旋光镜用于将入射光或反射光的偏振方向旋转45°，同时入射光或反射光的旋转方向不可逆。