[发明专利]反射式灰阶测试卡测量系统及方法

权利要求书

1.一种反射式灰阶测试卡测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：搭建反射式灰阶测试卡测试平台

1)在一条光轨上安装光源系统和样品架，并保证其在一条直线上；并在所述光源系统与样品架之间安装光阑，使光线清晰照射在被测样品上；所述方法在暗室里进行；所述光源系统选用卤素灯；在卤素灯周围加装平行光管；在所述光源系统中还加装有紫外/红外截止滤光片，以消除紫外光和近红外光的影响；

2)搭建一个45/0几何测量条件的转角系统，用于控制测量壁和样品架旋转，使其与光轨呈45°夹角；

3)在测量壁上安装光谱分光辐射度计作为接收单元，用于接收由待测反射式灰阶测试卡及标准白板反射的光信号；

S2：通过上述反射式灰阶测试卡测试平台，测量待测反射式灰阶测试卡的亮度值L₁和标准白板亮度值L₂；

S3：计算待测反射式灰阶测试卡的光反射因数R；

其中，R_S为已知的标准白板的光反射因数；

S4：计算待测反射式灰阶测试卡每一阶的反射光密度D：D＝-logR；

S5：画出光密度的散点图，求出线性回归方程和方程的相关系数，根据相关系数的平方值判断光密度的线性度，从而判断反射式灰阶测试卡的印刷质量。

2.根据权利要求1所述的反射式灰阶测试卡测量方法，其特征在于，所述S2具体为：用激光准直仪调节被测样品的高度，使样品的测光轴线与光轨的测光轴线处于同一水平面内；通过光谱分光辐射度计的目镜瞄准标准白板或反射式灰阶测试卡的中央，一边观察一边调节目镜和物镜，使仪器内的孔径光阑清晰可见，且被测目标的表面成像清晰；待仪器预热后，通过转角系统，调节样品架与光轨的测光轴线成45°角，开始测量；先测量标准白板，再依次测量待测反射式灰阶测试卡上每一阶图像的亮度。