[发明专利]存储器装置和操作存储器装置的方法在审
申请号: | 202110148967.4 | 申请日: | 2021-02-03 |
公开(公告)号: | CN113764019A | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
发明(设计)人: | 阿密特·伯曼;叶夫根尼·布莱克曼 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11C16/04 | 分类号: | G11C16/04;G11C16/26;G06N3/04;G06N3/08 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 刘灿强;张川绪 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储器 装置 操作 方法 | ||
1.一种操作存储器装置的方法,包括:
使用基于多个嵌入参数的神经网络将一组信息比特编程到一个或多个存储器单元中;
使用包括与所述多个嵌入参数一起训练的多个网络参数的神经网络,基于所述一个或多个存储器单元的电压电平来确定一组预测的信息比特;以及
基于所述组预测的信息比特从存储器装置读取信息比特。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括:
基于所述多个嵌入参数将所述组信息比特映射到一个或多个存储器单元的电压电平;以及
检测所述一个或多个存储器单元的电压电平。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,
所述一个或多个存储器单元包括多个存储器单元,并且所述多个嵌入参数包括具有等于存储器单元的数量的维数的阵列。
4.根据权利要求1所述的方法,还包括:
基于所述多个嵌入参数将所述组信息比特嵌入到嵌入空间中以产生嵌入符号;
应用S型函数来约束嵌入的信息符号以产生约束符号;以及
将约束符号进行缩放以产生与有效动态范围内的电压对应的缩放符号,其中,基于缩放符号来映射所述组信息比特。
5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的方法,还包括:
使用神经网络基于所述一个或多个存储器单元的电压电平来生成一组信息比特概率;以及
从所述组信息比特概率选择最高信息比特概率,其中,基于最高信息比特概率来识别所述组预测的信息比特。
6.一种训练用于存储器装置的人工神经网络的方法,包括:
将多个嵌入参数和网络参数初始化;
基于所述多个嵌入参数将一组信息比特映射到一个或多个存储器单元的电压电平;
使用基于网络参数的人工神经网络来识别一组预测的信息比特;以及
至少部分地基于所述组预测的信息比特来更新所述多个嵌入参数和网络参数。
7.根据权利要求6所述的方法,还包括:
基于所述多个嵌入参数更新网络参数以产生更新的网络参数;以及
基于更新的网络参数来更新所述多个嵌入参数以产生更新的嵌入参数。
8.根据权利要求6所述的方法,还包括:
执行多次训练迭代,其中,在每次训练迭代期间更新所述多个嵌入参数和网络参数。
9.根据权利要求6至8中的任意一项所述的方法,还包括:
计算所述组信息比特和所述组预测的信息比特的分类损失函数的梯度,其中,基于分类损失函数的梯度来更新所述多个嵌入参数或网络参数。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,
梯度包括物理NAND通道的近似值。
11.根据权利要求9所述的方法,还包括:
识别一个或多个存储器单元的数学模型,其中,基于数学模型计算分类损失函数的梯度。
12.根据权利要求11所述的方法,还包括:
基于来自附加存储器单元的数据来更新数学模型。
13.根据权利要求6至8中的任意一项所述的方法,还包括:
基于映射将所述组信息比特编程到所述一个或多个存储器单元中;以及
检测所述一个或多个存储器单元的电压电平以生成一个或多个检测的电压电平,其中,基于所述一个或多个检测的电压电平来识别所述组预测的信息比特。
14.根据权利要求13所述的方法,还包括:
使用神经网络基于检测的电压电平来生成一组信息比特概率,其中,基于最高信息比特概率来识别所述组预测的信息比特。
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