[发明专利]一种半导体测试用电源和模拟信号电流电压控制装置

说明书

本发明提供了一种半导体测试用电源和模拟信号电流电压控制装置，包括电源模块和与其电性连接的功放模块；电源模块分为高源电源和低源电源；功放模块包括偏置放大模块、中级放大模块和功率输出放大模块，中级放大模块设置有两个，且其分别与电源模块和偏置放大模块并联连接，功率输出放大模块设置有四个，且分别与两个中级放大模块和电源模块之间并联连接，偏置放大模块由晶体管MJE340和晶体管MJE350并联组成，功率输出放大模块是由高性能晶体管MJE4343和高性能晶体管MJE4343并联组成，本发明中的电源模块中的调整管采用晶闸管而不是传统的三极管或MOS管，晶闸管的引入能过更大的电流，能在短时间脉冲测试时提供大电流支持。

技术领域

本发明属于半导体测试用模拟信号电流电压控制装置技术领域，具体涉及一种半导体测试用电源和模拟信号电流电压控制装置。

背景技术

半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换。半导体器件的半导体材料是硅、锗或砷化镓，可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材。为了与集成电路相区别，有时也称为分立器件。绝大部分二端器件(即晶体二极管)的基本结构是一个PN结。

在半导体器件测试时，通常是先在PC机即上位机的软件界面上编写测试程序，然后通过嵌入式计算机即下位机将数字信号利用并口总线形式发出，再通过DA转换将数字信号变成模拟信号，将信号分成控制低源和高源(电压或电流)信号分别输出，信号放大成所需要的功率信号(电压或电流)输出到被测器件上，来完成半导体器件的测试，测试过程中现有的电源通常采用传统的三极管或MOS管，是的测试电源的电流或者电压的可调整性较差，因而影响测试的精准性和便捷性，影响半导体器件测试的整体效率。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术的不足，提供一种半导体测试用电源和模拟信号电流电压控制装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种半导体测试用电源和模拟信号电流电压控制装置，包括电源模块和与其电性连接的功放模块；

所述电源模块分为高源电源和低源电源；

所述功放模块包括偏置放大模块、中级放大模块和功率输出放大模块，所述中级放大模块设置有两个，且其分别与电源模块和偏置放大模块并联连接，所述功率输出放大模块设置有四个，且分别与两个中级放大模块和电源模块之间并联连接。

优选的，所述电源模块是外接220V交流电通过电压器T连接有整流桥A2，整流桥A2连接有电容C9和电容C10，在整流桥A2外连接有晶闸管Q12和晶闸管Q13，电容C9和电容C10之间连接有接地线。

优选的，在晶闸管Q12外和接地线之间还连接有比较器U7A，互相串联的电阻R32和电阻R34，以及电容CF1，比较器U7A的阴极与电阻R32和电阻R34之间连接；

在晶闸管Q13外和接地线之间还连接有比较器U7B，互相串联的电阻R33和电阻R41，以及电容CF2，比较器U7A的阴极与电阻R32和电阻R34之间连接。

优选的，所述偏置放大模块由晶体管MJE340和晶体管MJE350并联组成，所述中级放大模块由晶体管MJE15030和晶体管MJE15031并联组成。

优选的，所述功率输出放大模块是由高性能晶体管MJE4343和高性能晶体管MJE4343并联组成。

本发明与现有技术相比具有以下优点：

1、本发明中的电源模块中的调整管采用晶闸管而不是传统的三极管或MOS管，晶闸管的引入能过更大的电流，而且在电源模块的输出级并联一组大容值电容，具体为10mF，此组电容是储能器件，能在短时间脉冲测试时提供大电流支持，其中高源部分是50A，低源部分是10A。