[发明专利]一种恒温测试系统及测试方法

说明书

本发明公开了一种恒温测试系统及测试方法，其属于半导体开关管测试技术领域，恒温测试系统用于对半导体开关管在恒定温度下进行测试，包括：恒温块，所述恒温块上设置有绝缘导热垫片，所述半导体开关管设于所述绝缘导热垫片上；加热套件，与所述恒温块连接，用于对所述恒温块进行加热；温度传感器，设于所述恒温块上，用于测试所述恒温块的温度；半导体开关管底座，所述半导体开关管与所述半导体开关管底座连接；示波器，所述半导体开关管底座与所述示波器连接。本发明能够对半导体开关管在设定温度下进行准确测试。

技术领域

本发明涉及半导体开关管测试技术领域，尤其涉及一种恒温测试系统及测试方法。

背景技术

为了保证半导体开关管的使用性能，需要对半导体开关管在选定温度下进行测试。

现有测试装置在对半导体开关管进行温度测试时，一般采用加热装置将测试装置加热至设定温度后直接开始测试，测试温度容易受环境温度的影响，导致测试结果不准确，影响测试结果的判定。

发明内容

本发明的目的在于提供一种恒温测试系统及测试方法，能够对半导体开关管在设定温度下进行准确测试。

如上构思，本发明所采用的技术方案是：

一种恒温测试系统，用于对半导体开关管在恒定温度下进行测试，包括：

恒温块，所述恒温块上设置有绝缘导热垫片，所述半导体开关管设于所述绝缘导热垫片上；

加热套件，与所述恒温块连接，用于对所述恒温块进行加热；

温度传感器，设于所述恒温块上，用于测试所述恒温块的温度；

半导体开关管底座，所述半导体开关管与所述半导体开关管底座连接；

示波器，所述半导体开关管底座与所述示波器连接。

可选地，所述半导体开关管通过压片设于所述绝缘导热垫片上，所述压片的一端压紧于所述半导体开关管上，另一端通过紧固件安装于所述恒温块上。

可选地，所述紧固件为紧固螺丝。

可选地，所述恒温块为金属块。

可选地，所述恒温块为铝块。

一种测试方法，使用上述的温测试系统对半导体开关管在恒定温度下进行测试，包括以下步骤：

S1、设定第一待测试温度；

S2、控制加热套件对恒温块加热至所述第一待测试温度，加热过程中由温度传感器实时监测所述恒温块的温度，直至所述恒温块的温度达到所述第一待测试温度；

S3、监测所述恒温块是否达到热平衡，如果是，则执行步骤S4；如果否，则返回执行所述步骤S2；

S4、对所述半导体开关管进行选定参数测试，测试结果通过示波器进行显示；

S5、所述示波器将所述测试结果上传至上位机，所述上位机对所述测试结果进行数据处理。

可选地，在所述步骤S3中，在设定时间内，所述恒温块的温度与所述第一待测试温度的差值的绝对值不超过0.1℃则认为所述恒温块达到热平衡，否则所述恒温块未达到热平衡。

可选地，在所述步骤S5中，所述测试结果包括多个测试数据，去掉多个所述测试数据的最大值和最小值后，求取其余所述测试数据的平均值。

可选地，所述测试方法还包括：

S6、更新所述第一待测试温度，判断所述第一待测试温度是否大于最大测试温度；如果是，则测试结束，如果否，则返回执行所述步骤S1。