[发明专利]用于增材制造点阵结构材料的拉伸试样及拉伸测试方法有效

专利信息
申请号: 202110154454.4 申请日: 2021-02-04
公开(公告)号: CN112881128B 公开(公告)日: 2023-03-21
发明(设计)人: 姚美琪;魏星 申请(专利权)人: 航天科工防御技术研究试验中心
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N3/08
代理公司: 中国航天科工集团公司专利中心 11024 代理人: 张国虹
地址: 100854 北京*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 制造 点阵 结构 材料 拉伸 试样 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种用于增材制造点阵结构材料的拉伸测试方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤S1,制备填充有增材制造点阵结构材料的拉伸试样;

步骤S2,对拉伸试样进行拉伸测试,获取至少包括最大拉脱力的测试数据;

步骤S3,基于拉伸试样的结构参数和增材制造点阵结构的材料参数获取等效的所有点阵结构的横截面积;

步骤S4,采用最大拉脱力和等效的所有点阵结构的横截面积确定增材制造点阵结构的抗拉强度;

所述获取等效的所有点阵结构的横截面积的步骤S3具体包括:步骤S31,通过增材制造点阵结构材料对应的夹芯体积与胞元体积的比值确定点阵结构材料的相对密度;

步骤S32,通过试样原始厚度、试样原始宽度、原始标距三者之积确定拉伸试样平行长度对应的外部体积,通过试样原始宽度与蒙皮厚度之积确定蒙皮横截面积;

步骤S33,通过拉伸试样平行长度的外部体积与点阵结构材料的相对密度之积确定等效的点阵结构试样填充部分的实体体积;

步骤S34,采用等效的点阵结构试样填充部分的实体体积除以原始标距的商作为等效的点阵结构试样填充部分的横截面积;

步骤S35,采用等效的点阵结构试样填充部分的横截面积与2倍的蒙皮横截面积之和作为等效的所有点阵结构的横截面积。

2.如权利要求1所述的用于增材制造点阵结构材料的拉伸测试方法,其特征在于,所述拉伸试样是带蒙皮的矩形试样,或是不带蒙皮的矩形试样。

3.如权利要求2所述的用于增材制造点阵结构材料的拉伸测试方法,其特征在于,所述带蒙皮的矩形试样是矩形拉伸比例试样,或是矩形拉伸非比例试样。

4.如权利要求3所述的用于增材制造点阵结构材料的拉伸测试方法,其特征在于,

所述带蒙皮矩形拉伸比例试样的比例系数为5.65或11.3,试样的平行长度大于或等于原始标距与1.5倍原始横截面积平方根相加之和,原始标距则为比例系数与原始横截面积平方根相乘之积;

所述带蒙皮矩形拉伸非比例试样的平行长度大于或等于原始标距与1.5倍原始横截面积平方根相加之和,原始标距则为50毫米至200毫米区间的数值。

5.如权利要求1所述的用于增材制造点阵结构材料的拉伸测试方法,其特征在于,所述拉伸试样中填充的增材制造点阵结构材料的厚度应至少大于一个点阵单元的厚度。

6.如权利要求1所述的用于增材制造点阵结构材料的拉伸测试方法,其特征在于,所述测试数据包括但不限于下述任一种参数或它们的组合:

弹性极限、伸长率、弹性模量、比例极限、面积缩减量、拉伸强度、屈服点、屈服强度、拉伸曲线、断后长度、最大拉脱力。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于航天科工防御技术研究试验中心,未经航天科工防御技术研究试验中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110154454.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top