[发明专利]一种基于高分辨太赫兹技术的肿瘤标志物分子检测系统

权利要求书

1.一种基于高分辨太赫兹技术的肿瘤标志物分子检测系统，其特征在于，该系统包括：高分辨太赫兹系统（7）和数据分析处理系统（8）；

所述高分辨太赫兹系统（7）包括纳米探针（1）、太赫兹源（2）、太赫兹探测器（3）、基底（5）和样品台（6），用于采集待测样品的太赫兹光谱信息和太赫兹特征图像；所述高分辨太赫兹系统（7）分为三种类型：透射式太赫兹近场系统、反射式太赫兹近场系统或散射式太赫兹近场系统；通过设置太赫兹源和太赫兹探测器之间的空间夹角α，实现样品的透射式、反射式或散射式检测，0＜α＜360°；

所述数据分析处理系统（8）是将待测样品的太赫兹光谱信息和太赫兹特征图像与建立的参考标准进行比对，通过分析太赫兹光谱差异和识别图像中肿瘤标志物的拓扑结构，获取待测样品中所含有肿瘤标志物的类别与含量信息。

2.根据权利要求1所述的肿瘤标志物分子检测系统，其特征在于，所述太赫兹源（2）用于辐射太赫兹波，包括光电导天线、光整流和光学差频器件以及自由电子激光器。

3.根据权利要求1所述的肿瘤标志物分子检测系统，其特征在于，所述基底（5）的材料是能够制备单分子水平肿瘤标志物样品的材料；对于反射式/散射式检测，基底的材料具备增强太赫兹反射的能力；对于透射式检测，基底的材料需能透过太赫兹信号。

4.根据权利要求1所述的肿瘤标志物分子检测系统，其特征在于，所述的参考标准是建立的纯肿瘤标志物的综合特征信息，包括纯肿瘤标志物的太赫兹光谱信息和拓扑结构。

5.根据权利要求1或4所述的肿瘤标志物分子检测系统，其特征在于，所述太赫兹光谱信息包括时域光谱的峰峰值和单侧峰高，以及频域光谱的幅值和相位。

6.根据权利要求1或4所述的肿瘤标志物分子检测系统，其特征在于，所述肿瘤标志物的拓扑结构是太赫兹特征图像经过图像处理方法所得。

7.根据权利要求6所述的肿瘤标志物分子检测系统，其特征在于，所述图像处理方法包括：去卷积、图像锐化和图像分割。