[发明专利]一种二维自动微量样品架及其方法

权利要求书

1.一种二维自动微量样品架，其特征在于，包括光阑支架、光阑片、X向移动单元、Y向移动单元、样品盒、底座，所述X向移动单元设置于所述底座上，所述Y向移动单元垂直于所述X向移动单元设置，所述样品盒连接所述Y向移动单元，且所述样品盒可随所述X向移动单元和所述Y向移动单元分别在X向和Y向上移动，所述光阑支架设置于所述底座上，所述光阑片设置于所述光阑支架上；

所述X向移动单元包括第一驱动设备、齿轮、齿条、X向导杆、X向滑块和连接板，所述第一驱动设备的驱动轴连接所述齿轮，所述齿条与所述齿轮通过锯齿连接，所述X向滑块一端通过所述连接板与所述齿条连接，另一端套设于所述X向导杆上；

所述Y向移动单元包括第二驱动设备、Y向导杆和Y向滑块，所述Y向滑块一端连接所述样品盒，另一端套设于所述Y向导杆，所述第二驱动设备的驱动轴连接所述Y向滑块，并可驱动所述Y向滑块带动所述样品盒沿Y向导杆移动。

2.如权利要求1所述的一种二维自动微量样品架，其特征在于，还包括聚光镜片，所述聚光镜片设置于所述光阑片前。

3.如权利要求1所述的一种二维自动微量样品架，其特征在于，所述聚光镜片的中心2.0mm总厚度为5.0mm。

4.如权利要求1所述的一种二维自动微量样品架，其特征在于，所述光阑片和所述聚光镜片的间距为6.5mm。

5.如权利要求1所述的一种二维自动微量样品架，其特征在于，所述第一驱动设备为细分电机，所述第二驱动设备为丝杆电机。

6.如权利要求1所述的一种二维自动微量样品架，其特征在于，所述样品盒包括样品盒本体、倒L型拨片、拨钮，所述样品盒本体内部设有可容纳样品的方槽，所述样品盒本体顶部设有长条型槽，所述倒L型拨片设置于所述样品盒本体内部，所述拨钮穿过所述长条型槽连接于所述倒L型拨片。

7.如权利要求1所述的一种二维自动微量样品架，其特征在于，还包括控制单元，所述控制单元分别与所述第一驱动设备和所述第二驱动设备电信号连接，所述控制单元可驱动所述第一驱动设备带动所述样品盒在X向上移动，所述控制单元可驱动所述第二驱动设备带动所述样品盒在Y向上移动。

8.如权利要求7所述的一种二维自动微量样品架，其特征在于，还包括X向光耦片、X向光耦、Y向光耦片和Y向光耦，所述X向光耦和Y向光耦设置于所述底座上，所述X向光耦片设置于X向滑块上，所述Y向光耦片设置于所述Y向滑块上。

9.如权利要求8所述的一种二维自动微量样品架，其特征在于，所述控制单元与所述X向光耦和所述Y向光耦电信号连接。

10.一种样品透过率自动检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1、控制单元控制细分电机和丝杆电机，使细分电机和丝杆电机驱动，从而带动样品盒在X向和Y向上移动，直至样品盒上的X向光耦片与X向光耦重合，且Y向光耦片与Y向光耦重合；

S2、X向光耦与Y向光耦将重合信号发送至控制单元，控制单元将此时样品盒的某一位点设为X₀、Y₀；

S3、拨动倒L型拨片，放入样品，并拨回L型拨片将样品固定；

S4、向控制单元发出样品盒上的检测坐标X_a、Y_b，控制单元控制细分电机和丝杆电机，使样品盒上的坐标X_a、Y_b移动至光阑处；

S5、开始检测坐标X_a、Y_b处的透过率；

S6、重复步骤S4-S5。