[发明专利]一种快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪

权利要求书

1.一种快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪，其特征在于，包括角度板底板(1)、表头支架(5)、测量尺(4)、表头支架导轨(6)；角度板底板(1)一端开设有顶角为60°的V型开口槽，待测透镜(3)放置在V型开口槽处且与V型开口槽的两侧边相切；V型开口槽两侧的角度板底板(1)上表面设置有表头支架导轨(6)，表头支架(5)套设在角度板底板(1)上，表头支架(5)的顶框两侧与表头支架导轨(6)配合且可沿表头支架导轨(6)往复滑动，表头支架(5)的底框位于角度板底板(1)底部，表头支架(5)的顶框上还设置有千分尺表头(2)，表头支架(5)沿表头支架导轨(6)往复滑动时，千分尺表头(2)沿V型开口槽顶角平分线方向运动；角度板底板(1)底部还设置有测量尺(4)，测量尺(4)沿V型开口槽顶角平分线方向布置；表头支架(5)的底框和测量尺(4)同步同方向运动，且表头支架(5)和测量尺(4)的运动速度比为2:1；初始时，测量尺(4)与表头支架(5)均位于角度板底板(1)的V型开口槽的顶点位置，表头支架(5)和测量尺(4)同步运动至测量尺(4)接触待测透镜(3)时，测量尺(4)运动距离为待测透镜(3)的半径r，此时表头支架(5)上的千分尺表头(2)运动距离为2r，位于待测透镜(3)的中心上方。

2.如权利要求1所述的快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪，其特征在于，所述表头支架(5)的底框和测量尺(4)通过齿轮传动机构连接，由齿轮传动机构驱动表头支架(5)和测量尺(4)同步同方向运动。

3.如权利要求2所述的快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪，其特征在于，还包括：回位弹簧，测量尺(4)与回位弹簧连接，沿V型开口槽顶角平分线方向克服回位弹簧的拉力推动测量尺(4)。

4.如权利要求3所述的快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪，其特征在于，所述表头支架(5)为长方形框架。

5.如权利要求3所述的快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪，其特征在于，所述角度板底板(1)上为关于V型开口槽顶角平分线对称的平板。

6.如权利要求3所述的快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪，其特征在于，两条所述表头支架导轨(6)关于V型开口槽顶角平分线对称固定在角度板底板(1)上。

7.如权利要求3所述的快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪，其特征在于，所述V型开口槽底部具有透镜承载体(7)，其上布置待测透镜(3)。

8.基于权利要求1-7中任一项所述快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪的光学元件中心厚度测量方法，其特征在于，测量过程为：

将测量仪置于光学平台上，推动待测透镜3向测量仪角度板底板顶点方向靠拢并最终贴紧V型开口槽两侧；

推动测量尺直至测量尺顶端与待测透镜3边缘贴合，此时测量尺运动距离为待测透镜3半径r；

表头支架5运动速度为测量尺4的两倍且运动方向相同，此时正好滑动到待测透镜3中心位置，压下千分尺表头2，测量中心厚度并记录。

9.如权利要求1-7中任一项所述的快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪在光学精密测量技术领域中的应用。

10.如权利要求8所述的光学元件中心厚度测量方法在光学精密测量技术领域中的应用。